AOI主要特點(diǎn)：1）高速檢測(cè)系統(tǒng)與PCB板帖裝密度無關(guān)2）快速便捷的編程系統(tǒng)圖形界面下進(jìn)行運(yùn)用帖裝數(shù)據(jù)自動(dòng)進(jìn)行數(shù)據(jù)檢測(cè)運(yùn)用元件數(shù)據(jù)庫(kù)進(jìn)行檢測(cè)數(shù)據(jù)的快速編輯3）運(yùn)用豐富的專用多功能檢測(cè)算法和二元或灰度水平光學(xué)成像處理技術(shù)進(jìn)行檢測(cè)4）根據(jù)被檢測(cè)元件位置的瞬間變化進(jìn)行檢測(cè)窗口的自動(dòng)化校正，達(dá)到高的精度檢測(cè)5）通過用墨水直接標(biāo)記于PCB板上或在操作顯示器上用圖形錯(cuò)誤表示來進(jìn)行檢測(cè)電的核對(duì)

AOI檢查程序必須而且能夠處理這些不同的變化所帶來 的問題。但是，其中的一些變化需要花費(fèi)時(shí)間進(jìn)行處理， 因?yàn)槲覀儾荒茴A(yù)先知道是否有一種新的元器件被使用，或 是存在一個(gè)錯(cuò)誤的元器件布局。雙面檢查AOIV5300無人化終檢方案在ICT、FT后，進(jìn)行檢查。同時(shí)，面對(duì)質(zhì)量方面的困 難，大量允許的可能出現(xiàn)的情況也需要一個(gè)一致的，確實(shí) 可行的說明。

AOI 的一個(gè)特點(diǎn)在于其分析軟件 ,只使用一個(gè)軟件編程方法, 無論針對(duì)焊前或焊后, 都可使用完全相同的設(shè)備和軟件, 無需進(jìn)行鏡頭或傳感器的更換; 另一個(gè)特點(diǎn)是機(jī)械設(shè)計(jì)非常簡(jiǎn)單, 由于鏡頭是固定不動(dòng)的, 能減少由于運(yùn)動(dòng)部件過多引起的偏差或校準(zhǔn)工作。

AOI產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于智能終端、可穿戴設(shè)備、電信網(wǎng)絡(luò)、航空航天、汽車電子等各個(gè)領(lǐng)域，為客戶提供高檢出、低誤報(bào)、簡(jiǎn)單易用、功能強(qiáng)大的視覺檢查系統(tǒng)。

AOI 四個(gè)檢測(cè)位置中, 錫膏印刷之后、 ( 片式 ) 器件貼放之后和元件貼放之后的檢測(cè)目的在于預(yù)防問題,在這幾個(gè)位置檢測(cè), 能夠阻止缺陷的產(chǎn)生; 在回流焊接之后的檢測(cè), 則目的在于發(fā)現(xiàn)問題。預(yù)防問題 AOI放置在爐前, 發(fā)現(xiàn)問題 AOI 放置在爐后。當(dāng)前來說, 爐前的 AOI 比爐后的 AOI 重要, 但爐后的檢查特別是焊點(diǎn)類不良的檢查是 AOI 的檢查的難點(diǎn), Teradyne 的Optima7000 系統(tǒng)就側(cè)重于爐后的檢測(cè)。更多的 AOI 都具有很大的彈性度, 安捷倫的 SJ50 與 SP50 ( 三維) 焊膏檢測(cè)系統(tǒng)使用統(tǒng)一化平臺(tái), 可以互換照明頭。之后，再有意地利用PCB錯(cuò)誤布局，使得它產(chǎn)生一些工藝中的缺陷，如立碑和引腳懸空等。 Omron和 Teradyne 的 AOI 都可以移到其它測(cè)試位置。

AOI為客戶提供專業(yè)、及時(shí)、的技術(shù)服務(wù)。憑著的設(shè)備性能、完善的售后服務(wù)，在智能制造、工業(yè)4.0的大潮中，明銳人將秉持“誠(chéng)信為本、服務(wù)客戶、精益求精”的核心價(jià)值觀，以對(duì)“創(chuàng)新和品質(zhì)”的持續(xù)探求，成為業(yè)界的視覺檢查方案供應(yīng)商，用智慧與心血為世界重新定義“視覺與智能”的內(nèi)涵。隨著行業(yè)技術(shù)的快速提升以及勞動(dòng)力成本的不斷提高，自動(dòng)化、智能化在電子生產(chǎn)領(lǐng)域起著至關(guān)重要的作用。

波長(zhǎng)光源也就是一般現(xiàn)代工業(yè)AOI檢測(cè)設(shè)備中的紅綠藍(lán)LED光源。特殊波長(zhǎng)光源一般是指紅外或紫外波長(zhǎng)光源，一些特殊材料在可見光范圍內(nèi)吸收差別不大，灰階變化不明顯時(shí)可以考慮采用特殊波長(zhǎng)光源，比如說利用紫外光能量高可以激發(fā)熒光材料的原理，檢測(cè)具有熒光發(fā)光特性物質(zhì)微殘留時(shí)紫外光源就是一種比較有效的手段，因材料成分與紅外光譜有對(duì)應(yīng)關(guān)系的原理，紅外光源對(duì)不具有發(fā)光性質(zhì)的有機(jī)化合物殘留缺陷檢出就有很大的作用，甚至可以實(shí)現(xiàn)成分分析。隨著現(xiàn)代制造業(yè)規(guī)模的擴(kuò)大,生產(chǎn)的受控性越來越重要,對(duì)SPC資料的需求也不斷增長(zhǎng)。特殊光源中，利用偏振光與物體相互作用后偏振態(tài)的變化，利用光學(xué)干涉原理的白光干涉（white light interferometry）在特定缺陷檢測(cè)中的得到了應(yīng)用，例如通過相干光的干涉圖案計(jì)算出對(duì)應(yīng)的相位差和光程差，可以測(cè)量出被測(cè)物體與參考物體之間的差異，且分辨率與精度為可以達(dá)到亞波長(zhǎng)，測(cè)量三維物體形貌與高度也正成為AOI檢測(cè)的新需求。