顯微鏡有效放大倍數(shù)的再認(rèn)識

對顯微鏡有效放大倍數(shù)的再認(rèn)識顯微鏡的有效放大倍數(shù)（M）與物鏡數(shù)值孔徑（NA）的關(guān)系可以表示為：550NA＜M＜1100NA>，長期以來，顯微鏡使用者一直遵循這一關(guān)系式。但是，VanderVoort在其所著《金相學(xué)——原理與實踐》一書中指出，上式是在用理想的眼睛觀察具有理想反差物象的條件下推導(dǎo)出的，因此不要當(dāng)做教條來遵循。實際上，分辨率不僅與物鏡的分辨率有關(guān)，而且還與物象的反差有關(guān)。此外，照明條件、放大倍數(shù)、物鏡質(zhì)量，以及觀察條件都會影響物象的反差，因而也會影響分辨率。他指出，為了獲得分辨率，有效放大倍數(shù)應(yīng)當(dāng)是條件下的4倍左右，即M≈2200NA；同時，使用4000×或更高放大倍數(shù)的顯微照片也是完全合理的。

金相顯微鏡明場/暗場區(qū)別

金相顯微鏡明場/暗場區(qū)別？ 什么是明場：是通過直射光線將物體照亮之后，將反射光直接進(jìn)入成像系統(tǒng)，然后使物體成像。所成得像則為彩色的圖像，不過對于一些微小的裂紋跟劃傷等則看不清晰。 什么是暗場：傾斜入射的光線打在檢驗區(qū)域的旁邊，完全不進(jìn)入成像系統(tǒng)，能進(jìn)入成像系統(tǒng)的只是被受照物體表面的微粒散射或衍射的光線，成像後得到的是這些亮的微粒像，成像為黑白圖像。 可以更清楚看到細(xì)小的劃傷跟裂紋。

金相試樣選取合適、有代表性的

選取金相試樣 選取合適、有代表性的金相試樣是金相分析研 究中至關(guān)重要的一步。一種是系統(tǒng)取樣，試樣要有代表性。另一種是取樣，即根據(jù)所研究的問題，有針對性地取樣。要做好這項工作，首先必須了解和熟悉各合號的用途、檢測標(biāo)準(zhǔn)、質(zhì)量狀況等特點。 對于各牌號樣品的選取，要特別關(guān)注其代表性和合格性。為了制作圖片時更有選擇性，通常一個牌號同時選取幾片試樣，而且通常各牌號的同一個金相試樣磨面，在高倍顯微鏡下具有上萬個視場，每個視場的圖像千變?nèi)f化，都存在著差異，所以選取制作真正有代表性的圖像還必須在攝制圖像的時候仔細(xì)觀測和篩選。對于特色樣品的選取要有針對性。尤其是有缺陷類型的，其樣品的收集必須要在生產(chǎn)檢測中及時和長期的跟蹤。