直讀光譜儀器的誤差來源有哪些？1)系統(tǒng)誤差也叫可測誤差，一般包括儀器的本身波動；樣品的給定值和實際值存在一定的偏差（標準樣品的元素定值方法可能和實際檢測方法不一致，這樣檢測結(jié)果會有方法上的差異；同一種方法的檢測結(jié)果也存在一定的波動）；待測樣品和系列標樣之間存在成分的差異，可能導致在蒸發(fā)、解離過程中的誤差，如背景強度的差別和基體蒸發(fā)的差異等。2)偶然誤差是一種無規(guī)律性的誤差，如試樣不均勻；檢測時周圍的溫濕度、電源電壓等的變化；樣品本身的成分差異等。就是用國級光譜標樣，在不同的光譜儀上連續(xù)打10個點，看它的極差或者RSD。3)過失誤差是指分析人員工作中的操作失誤所得到的結(jié)果，可以避免。如制樣不確，樣品前處理不符合要求，控樣和待測試樣存在制樣偏差，選擇了錯誤的分析程序等。 次數(shù)用完API KEY 超過次數(shù)限制

1882年，羅蘭發(fā)明了凹面光柵，即是把劃痕直接刻在凹球面上。凹面光柵實際上是光學儀器成象系統(tǒng)元件的合為一體的高元件，它解決了當時棱鏡光譜儀所遇到的不可克服的困難。凹面光柵的問世不僅簡化了光譜儀器的結(jié)構(gòu)，而且還提高了它的性能。

國產(chǎn)直讀光譜分析儀器波耳的理論在光譜分析中起了作用，其對光譜的激發(fā)過程、光譜線強度等提出比較滿意的解釋。通過記錄可以了解分析儀器維護情況及動態(tài)，進而掌握分析儀器故障原因。從測定光譜線的絕強度轉(zhuǎn)到測量譜線的相對強度的應(yīng)用，使光譜分析方法從定性分析發(fā)展到定量分析創(chuàng)造基礎(chǔ)。從而使光譜分析方法逐漸走出實驗室，在工業(yè)部門中得到廣泛應(yīng)用。 次數(shù)用完API KEY 超過次數(shù)限制

光譜儀維修必學的準則

“先易后難”：先解決比較容易的問題，再逐步處理比較棘手的故障。計算機中的軟件數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)：對電腦接收到的各通道的光強數(shù)據(jù)，進行各種算法運算，得到穩(wěn)定，準確的樣品含量。儀器發(fā)生故障時，尤其是發(fā)生比較復雜的綜合性故障，對于解決這種故障應(yīng)該先從比較容易解決的故障入手，比如：檢修儀器的電路板，應(yīng)先檢查電容、電阻、電感、二極管、三極管、保險絲、接插件、開關(guān)、指示燈等，在排除完這些元件故障后，再檢查集成電路、大功率管、功率模塊、傳感器、接口IC、微處理器IC、存儲器IC等，有條有序的檢查。 次數(shù)用完API KEY 超過次數(shù)限制