物鏡按照無限遠(yuǎn)象距進(jìn)行設(shè)計(jì)而不是象常規(guī)物鏡

物鏡按照無限遠(yuǎn)象距進(jìn)行設(shè)計(jì)而不是象常規(guī)物鏡那樣按照有限象距進(jìn)行設(shè)計(jì)，這種光學(xué)系統(tǒng)稱為無限遠(yuǎn)色差和象差校正的光學(xué)系統(tǒng)或簡稱無限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng)。使用這種光學(xué)系統(tǒng)時，當(dāng)入射光從試樣表面反射再次進(jìn)入物鏡后，并不收斂而是保持為平行光束，直到通過鏡筒透鏡后才收斂并形成中間象，即一次放大實(shí)象，然后才供目鏡再次放大。 平場消色差物鏡 現(xiàn)今新型顯微鏡已經(jīng)普遍使用平場消色差物鏡，甚至還可以配置更的平場復(fù)消色差物鏡。老式物鏡初次放大實(shí)象的直徑只有18mm～20mm，而平場消色差物鏡則規(guī)定高度校正的初次放大平面象的直徑為28mm，即象場面積增大了一倍，并使象場彎曲得到了很好的校正。

顯微鏡有效放大倍數(shù)的再認(rèn)識

對顯微鏡有效放大倍數(shù)的再認(rèn)識顯微鏡的有效放大倍數(shù)（M）與物鏡數(shù)值孔徑（NA）的關(guān)系可以表示為：550NA＜M＜1100NA>，長期以來，顯微鏡使用者一直遵循這一關(guān)系式。但是，VanderVoort在其所著《金相學(xué)——原理與實(shí)踐》一書中指出，上式是在用理想的眼睛觀察具有理想反差物象的條件下推導(dǎo)出的，因此不要當(dāng)做教條來遵循。實(shí)際上，分辨率不僅與物鏡的分辨率有關(guān)，而且還與物象的反差有關(guān)。此外，照明條件、放大倍數(shù)、物鏡質(zhì)量，以及觀察條件都會影響物象的反差，因而也會影響分辨率。他指出，為了獲得分辨率，有效放大倍數(shù)應(yīng)當(dāng)是條件下的4倍左右，即M≈2200NA；同時，使用4000×或更高放大倍數(shù)的顯微照片也是完全合理的。

細(xì)磨粗磨后的試樣,磨面上仍有較深的磨痕,為了消除這些磨痕必須

細(xì)磨 粗磨后的試樣，磨面上仍有較粗較深的磨痕，為了消除這些磨痕必須進(jìn)行細(xì)磨。細(xì)磨，可分為手工磨和機(jī)械磨兩種， 目前機(jī)械磨是主要的磨樣方式。 目前普遍使用的機(jī)械磨設(shè)備是預(yù)磨機(jī)。電動機(jī)帶動鋪著水砂紙的圓盤轉(zhuǎn)動，磨制時，將試樣沿盤的徑向來回移動，用力要均勻，邊磨邊用水沖。水流既起到冷卻試樣的作用，又可以借助離心力將脫落砂粒、磨屑等不斷地沖到轉(zhuǎn)盤邊緣。機(jī)械磨的磨削速度比手工磨制快得多，但平整度不夠好，表面變形層也比較嚴(yán)重。因此要求較高的或材質(zhì)較軟的試樣應(yīng)該采用手工磨制。

正置與倒置金相顯微鏡的區(qū)別

了解正置與倒置金相顯微鏡的主要區(qū)別： 倒置金相顯微鏡:主要適用對各種金屬和合金材料的組織結(jié)構(gòu)、鑄件質(zhì)量以及熱處理后相位組織進(jìn)行研究分析工作，是金屬學(xué)研究的必備儀器，由于試樣的觀察面倒置不受高度限制，在制備試樣時只要一個觀察面平整即可。 正置金相顯微鏡具有和倒置金相顯微鏡同樣的基本功能，因此更廣泛的應(yīng)用于透明，半透明或不透明物質(zhì)。大于3 微米小于20微米觀察目標(biāo)，比如金屬陶瓷、電子芯片、印刷電路、LCD基板、薄膜、纖維、顆粒狀物體、鍍層等材料表面的結(jié)構(gòu)、痕跡，都能有很好的成像效果。