蔡司三坐標(biāo)測量機

顧名思義，形位公差實際上包含了兩類不同的元素特征評價內(nèi)容，一類是形狀公差、另一類是位置公差。形狀公差共包含直線度、平面度、圓度、圓柱度、線輪廓度和面輪廓度;而位置公差共包含平行度、垂直度、傾斜度、位置度、同心度、同軸度和對稱度。另外，還有一類特殊的形位公差稱作跳動，包括徑向/端面圓跳動和徑向/端面全跳動。跳動從實質(zhì)上來說,也是評價被測元素的形狀誤差，因此我們不妨將其也歸入形狀誤差一類。

掃描測頭

掃描測頭在進行單點觸發(fā)采點時，其工作方式與觸發(fā)式測頭有很大的區(qū)別。觸發(fā)式測頭的采點是在測頭觸發(fā)開始時發(fā)生的;而掃描測頭則是采用模擬信號轉(zhuǎn)換的方式，其單個采點是在測頭觸發(fā)結(jié)束、測針離開物體表面時發(fā)生的。這兩種不同的采點方式造成的顯而易見的區(qū)別就是觸發(fā)測頭采點速度顯著高于掃描測頭。觸發(fā)測頭的采點給人的感覺是“一碰即退”，而掃描測頭采點則是測針碰到工件后，會短暫粘滯在工件表面，然后緩慢回退至離開工件表面。

三軸聯(lián)動與五軸聯(lián)動

五軸系統(tǒng)能夠?qū)?個旋轉(zhuǎn)軸的運動帶入到實時測量中，和3個直線軸協(xié)同工作，實現(xiàn)測頭部分“邊測邊動”的效果。因此相比三軸系統(tǒng)能夠帶來更大的靈活性。隨著當(dāng)今工業(yè)技術(shù)的進步，五軸加工設(shè)備開始被普遍應(yīng)用到復(fù)雜零件的加工上，但這一趨勢尚沒有在測量領(lǐng)域得以普及，絕大多數(shù)的坐標(biāo)測量機仍停留在傳統(tǒng)的三軸或四軸技術(shù)水平上?！拔遢S加工”與“三軸測量”之間的不對等勢必會給測量帶來一定的困難，造成測量盲區(qū)。