相位差測(cè)試儀

主要精度數(shù)據(jù)

整機(jī)尺寸：根據(jù)客戶樣品尺寸定制

對(duì)應(yīng)樣品尺寸：可定制

軸角度測(cè)量范圍：0°~180°

數(shù)據(jù)輸出：電腦連接

軸角度精度：±0.05°（精度業(yè)內(nèi)i高）

測(cè)量重復(fù)性：0.02°  （精度業(yè)內(nèi)i高）

相位差重復(fù)性精度：３σ≦０．１nm；

測(cè)量波段：550nm單波段（可根據(jù)客戶要求定制波段）

可升級(jí)為380nm~780nm

相位差測(cè)試儀

公司主要的經(jīng)營(yíng)范圍為光電材料、電子科技、軟件科技領(lǐng)域內(nèi)的技術(shù)開(kāi)發(fā)、 技術(shù)咨詢、技術(shù)服務(wù)、技術(shù)轉(zhuǎn)讓;光電產(chǎn)品、半導(dǎo)體材料、儀器儀表、自動(dòng)化設(shè)備、計(jì)算 機(jī)設(shè)備、辦公設(shè)備、電動(dòng)工具、五金產(chǎn)品的設(shè)計(jì)、銷(xiāo)售、上門(mén)維修、租賃服務(wù)等;貨物及技術(shù)的進(jìn)出口業(yè)務(wù)。

 可更加精準(zhǔn)的量測(cè)低相位差(0.1nm～)適合作為評(píng)估相位差的波長(zhǎng)分散、自動(dòng)檢測(cè)配向角(光學(xué)軸)或角度配向性等光學(xué)膜偏光特性的裝置。檢測(cè)器采用多頻譜分光光譜儀，展現(xiàn)任一個(gè)波長(zhǎng)的相位差量測(cè)?？蛇x配傾斜式、旋轉(zhuǎn)式量測(cè)平臺(tái)，評(píng)估三次元折射率參數(shù)解析等視野角特性。配合量測(cè)樣品，自由架構(gòu)量測(cè)平臺(tái)。

相位差測(cè)量技術(shù)廣泛應(yīng)用于眾多領(lǐng)域和部門(mén)，如今測(cè)量電路具有運(yùn)行速度快、、低成本等優(yōu)點(diǎn)，它的應(yīng)用領(lǐng)域?qū)拸V并取得了許多新的進(jìn)展。尤其技術(shù)的發(fā)展，需要發(fā)展、多種功能的相位計(jì)。因此，在各種實(shí)時(shí)系統(tǒng)之中對(duì)于相位差測(cè)量技術(shù)極其重要。?