蔡司三坐標測量機

掃描測頭

掃描測頭在進行單點觸發(fā)采點時，其工作方式與觸發(fā)式測頭有很大的區(qū)別。觸發(fā)式測頭的采點是在測頭觸發(fā)開始時發(fā)生的;而掃描測頭則是采用模擬信號轉(zhuǎn)換的方式，其單個采點是在測頭觸發(fā)結(jié)束、測針離開物體表面時發(fā)生的。這兩種不同的采點方式造成的顯而易見的區(qū)別就是觸發(fā)測頭采點速度顯著高于掃描測頭。觸發(fā)測頭的采點給人的感覺是“一碰即退”，而掃描測頭采點則是測針碰到工件后，會短暫粘滯在工件表面，然后緩慢回退至離開工件表面。

固定式測頭與旋轉(zhuǎn)測頭

同樣，這也不是一個孰優(yōu)孰劣的命題，而僅僅是設(shè)計初衷的不同導(dǎo)致應(yīng)用場合的差異。和旋轉(zhuǎn)式測頭相比，固定式測頭顯著的優(yōu)勢是其測針攜帶能力。固定式測頭由于其結(jié)構(gòu)設(shè)計上的先天優(yōu)勢，一般允許攜帶的測針重量和長度要明顯大于旋轉(zhuǎn)式測頭。所以在有深孔測量、大零件測量需求的場合，選擇固定式測頭更為普遍。但是我們在進行較為復(fù)雜的測量任務(wù)時，由于測頭無法變換角度，就需要根據(jù)不同的測針方向來配置吸盤。

三坐標測頭

光學(xué)測頭相比接觸式測頭還有另一方面的優(yōu)勢。接觸式測頭采點時，測頭記錄的是測球中心的空間坐標，然后根據(jù)測球半徑來進行補償，得出實際點的坐標。但當測量特定位置的三維曲線時，如果不按照測點的法線方向去采點，會存在半徑補償余弦誤差;而如果按照測點的法線方向去采點，又會產(chǎn)生實際測點位置出現(xiàn)偏差的情況。這種情形在測量透平葉片時尤為常見。

三坐標測量機如何合理選擇測針

在使用過程中影響測量結(jié)果的因素除了環(huán)境因素和三坐標測量機自身的計量特性外，還與測針的選擇有著密切的關(guān)系。我們要選擇測針的大小和類型，其實就是在選擇測針的大剛度還有測球的球度。測桿材料的選擇也很重要，測桿必須設(shè)計具有大的剛性，這樣即使測量時測桿彎曲至低也不會被折斷。還要兼顧選擇盡可能短的測針，測桿越長精度就越低，應(yīng)當減少測針組合的件數(shù)，測球的直徑也要盡可能選大一點，這樣不但可以增大測球和測針桿之間的距離，還可以減少測針桿的碰撞