大塚電子（蘇州）有限公司主要銷(xiāo)售用于光學(xué)特性評(píng)價(jià)?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車(chē)前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機(jī)EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評(píng)價(jià)?檢查。歡迎新老客戶來(lái)電咨詢！

使用顯微光譜法在微小區(qū)域內(nèi)通過(guò)絕i對(duì)反射率進(jìn)行測(cè)量，可進(jìn)行高i精度膜厚度/光學(xué)常數(shù)分析。

可通過(guò)非破壞性和非接觸方式測(cè)量涂膜的厚度，例如各種膜、晶片、光學(xué)材料和多層膜。 測(cè)量時(shí)間上，能達(dá)到1秒/點(diǎn)的高速測(cè)量，并且搭載了即使是初次使用的用戶，也可容易出分析光學(xué)常數(shù)的軟件

　膜厚儀廠家解釋凡其厚度與入射光波長(zhǎng)相比擬的并能引起干涉現(xiàn)象(相干光程小于相干長(zhǎng)度)的膜層為薄膜，其厚度遠(yuǎn)大于入射光波波長(zhǎng)的膜層稱之為厚膜。如今，微電子薄膜，光學(xué)薄膜，抗1氧化薄膜，巨磁電阻薄膜，高溫超導(dǎo)薄膜等在工業(yè)生產(chǎn)和人類(lèi)生活中的不斷應(yīng)用，在工業(yè)生產(chǎn)的薄膜，其厚度是一個(gè)非常重要的參數(shù)，直接關(guān)系到該薄膜材料能否正常工作。

膜厚測(cè)試儀的預(yù)熱 　　關(guān)機(jī)超過(guò)3個(gè)小時(shí)開(kāi)機(jī)必做。點(diǎn)擊“波數(shù)”，將波譜校準(zhǔn)片放入儀器，將Ag部分移至十字線中間，鐳射聚焦，設(shè)定測(cè)量時(shí)間為6S重復(fù)測(cè)量次數(shù)為30~50次,點(diǎn)擊Go鍵，等待自動(dòng)連續(xù)測(cè)量完成。