江蘇一六儀器   X射線熒光測厚儀    十年以上研發(fā)團(tuán)隊(duì)      集研發(fā)生產(chǎn)銷售一體

性能優(yōu)勢：

   下照式設(shè)計：可以快速方便地定位對焦樣品。

   無損變焦檢測:可對各種異形凹槽進(jìn)行無損檢測，凹槽深度范圍0-90mm。

   微聚焦射線裝置：可檢測面積小于0.002mm2的樣品，可測試各微小的部件。

測厚儀

    測厚儀（thickness gauge ）是用來測量材料及物體厚度的儀表。在工業(yè)生產(chǎn)中常用來連續(xù)或抽樣測量產(chǎn)品的厚度（如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料）。測厚儀精度怎么測：測厚儀精度不需要自行測試，只需打開說明書或者測厚儀銘牌出就可以找到具體精度。這類儀表中有利用α射線、β射線、γ射線穿透特性的性厚度計；有利用超聲波頻率變化的超聲波厚度計；有利用渦流原理的電渦流厚度計；還有利用機(jī)械接觸式測量原理的測厚儀等。

X射線熒光的基本原理

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X射線熒光是由原級X射線照射待測樣品時所產(chǎn)生的次級X射線，入射的X射線具有相對較大的能量，使其可以轟擊出位于元素原子內(nèi)層中的電子。X射線德國物理學(xué)家倫琴在研究稀薄氣體放電實(shí)驗(yàn)時，采用了一種特殊裝置，此裝置發(fā)射電子，在陰極相對的位置裝置金屬陽極，在陰陽兩極之間加以高電壓，當(dāng)容器充有稀薄氣體時，氣體中可觀察到放電現(xiàn)象，試驗(yàn)中發(fā)現(xiàn)的這種未知射線，倫琴命名為X射線。X射線熒光光譜的波長在0.01-10納米之間，能量在124KeV-0.124KeV之間。用于元素分析中的X射線熒光光譜波長的范圍在0.01-11納米之間，能量為0.111-0.124KeV。

   當(dāng)X射線激發(fā)出試樣特征X射線時，其入射電磁輻射能量必須大于某一個值才能引起其內(nèi)層電子激發(fā)態(tài)從而形成空穴并引起電子的躍遷，這個值是吸收限，相當(dāng)于內(nèi)層電子的功函數(shù)。江蘇一六儀器有限公司是一家擁有先進(jìn)的技術(shù)，you秀的良將，嚴(yán)格的企業(yè)管理的公司。如果入射電磁輻射的能量低于吸收限則在任何情況下都不能激發(fā)原子內(nèi)層電子并產(chǎn)生特征X射線。

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X射線測厚儀測量精度的影響因素有哪些

    我們要保證生產(chǎn)的產(chǎn)品厚度上是否可以，那么X射線測厚儀測量的精度是否準(zhǔn)確就非常重要了，如果X射線測厚儀的測量精度發(fā)生了偏差，那么生產(chǎn)出來的產(chǎn)品就不會！eX射源安裝完畢，在開啟的狀態(tài)下，對周圍的射線輻射劑量進(jìn)行檢測，在安全區(qū)不得超過人體當(dāng)量的允許值（一般情況下是安全的）。由此可知測厚儀的測量精度有多么重要，因此，這次在這與大家分享下X射線測厚儀測量精度的影響因素有哪些:

首先,是X射線的高壓控制箱會對測量的精度造成一定的影響；

第二,在X射線測厚儀通過施加高壓釋放出X射線時,X射線途經(jīng)環(huán)境的溫度濕度也會影響X射線對被測物體的測量；

第三,在測量過程中,被測物體上,可能會有附著物,也會影響測量的精度；

第四,在生產(chǎn)過程中,補(bǔ)償值也會對X射線測厚儀的測量精度造成影響。

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儀器規(guī)格：

外形尺寸 ：550 mm x 480mm x 470 mm （長x寬x高）

樣品倉尺寸 ：500mm×360 mm ×215mm （長x寬x高）

儀器重量 ：55kg

供電電源 ：交流220±5V

da功率 ：330W

環(huán)境溫度：15℃-30℃

環(huán)境相對濕度：<70%

測厚儀和膜厚儀一樣嗎

   測厚儀和膜厚儀是不一樣的，膜厚儀屬于測厚儀的分類，也就是說測厚儀是膜厚儀的上司一樣，對此我們也可以來了解下測厚儀跟膜厚儀的一些概念：

測厚儀按原理分類:激光測厚儀、超聲波測厚儀、X射線測厚儀、壓力測厚儀、白光干涉測厚儀、電解式測厚儀、機(jī)械接觸式測厚儀。

測厚儀的原理：超聲波測厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來進(jìn)行厚度測量，當(dāng)探頭發(fā)射超聲波脈沖通過被測物體到達(dá)材料分界面時，脈沖被反射回探頭，通過準(zhǔn)確測量超聲波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度。凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測量。同位素測厚儀利用物質(zhì)厚度不同對輻射的吸收與散射不同的原理，可以測定薄鋼板、薄銅板、薄鋁板、硅鋼片、合金片等金屬材料及橡膠片，塑料膜，紙張等的厚度。