數(shù)字IC設(shè)計(jì)常用的數(shù)制換算？

1、幾種常用數(shù)制

1.1、十進(jìn)制

十進(jìn)制的每一位由0~9十個(gè)數(shù)碼表示，低位和相鄰高位之間的關(guān)系是“逢十進(jìn)一”。計(jì)數(shù)方式：0→1→。。?！?→10→11→。。。→19→20→21→。。?！?9→30→31。。。

1.2、二進(jìn)制

二進(jìn)制的每一位由0、1表示，低位和相鄰高位之間的關(guān)系是“逢二進(jìn)一”。計(jì)數(shù)方式：0→1→10→11→100→101。。。

1.3、八進(jìn)制

八進(jìn)制的每一位由0~7表示，低位和相鄰高位之間的關(guān)系是“逢八進(jìn)一”。計(jì)數(shù)方式：0→1→。。。→7→10→11→。。。→17→20→21→。。?！?7→30→31→。。。

1.4、十六進(jìn)制

十六進(jìn)制的每一位由0~9、A、B、C、D、E、F十六數(shù)碼表示，低位和相鄰高位之間的關(guān)系是“逢十六進(jìn)一”。計(jì)數(shù)方式：0→1→.。。?！?→A→B→C→D→E→F→10→11→。。。1F→20→21→。。?！?F→30→31。。。

2、不同數(shù)制之間的轉(zhuǎn)換

2.1、二進(jìn)制與十進(jìn)制轉(zhuǎn)換

2.1.1 二-十轉(zhuǎn)換

將二進(jìn)制數(shù)的第N位數(shù)值乘以第N位的權(quán)重，其中第N位的權(quán)重為2?（注：m位二進(jìn)制數(shù)從右向左分別記為第0,1，。。。，m-1位，位是第0位，位是第m-1位），然后將相乘的結(jié)果按十進(jìn)制數(shù)相加，就可以得到等值的十進(jìn)制數(shù)。

舉個(gè)栗子：（101）?=1×22 0×21 1×2?=（5）?? ，這個(gè)二進(jìn)制數(shù)第2位是1，它的權(quán)重是22，相乘為1×22；位是0，它的權(quán)重是21，相乘為0×21；針對(duì)靜態(tài)時(shí)序分析和后中出現(xiàn)的問(wèn)題，對(duì)電路和單元布局進(jìn)行小范圍的改動(dòng)。第0位是1，它的權(quán)重是2?，相乘為1×2?，后將每一位的乘積按十進(jìn)制運(yùn)算相加。

與數(shù)字IC相比較，模擬IC更具備它自身獨(dú)特的屬性

雖然數(shù)字IC和模擬IC同屬于集成電路范疇，但兩者的基本工作原理截然不同，基本的工作原理的差異決定了數(shù)字IC和模擬IC不同的產(chǎn)品特性、設(shè)計(jì)思路、工藝選擇以及市場(chǎng)分布情況。

模擬集成電路行業(yè)具備以下四大特點(diǎn)：需求端：下游需求分散，產(chǎn)品生命周期較長(zhǎng)。供給端：偏向于成熟和特種工藝，八寸產(chǎn)線為主供給。競(jìng)：競(jìng)爭(zhēng)格局分散，廠商之間競(jìng)爭(zhēng)壓力小。技術(shù)端：行業(yè)技術(shù)壁壘較高，重經(jīng)驗(yàn)以人為本。模擬IC產(chǎn)品生命周期較長(zhǎng)，一旦切入產(chǎn)品便可以獲得穩(wěn)定的芯片出貨量。這個(gè)步驟就像初步記下建筑的規(guī)畫(huà)，將整體輪廓描繪出來(lái)，方便后續(xù)制圖。

需求層面：模擬類產(chǎn)品下游汽車、工業(yè)用途要求以可靠性、安全行為主，偏好性能成熟穩(wěn)定類產(chǎn)品的同時(shí)資格認(rèn)可相對(duì)較為嚴(yán)格，一般不低于一年半。

供給層面：先進(jìn)制程對(duì)于模擬類產(chǎn)品推動(dòng)作用較小，基本不受摩爾定律推動(dòng)，因此模擬類產(chǎn)品性能更新迭代較慢。因此模擬類產(chǎn)品生命周期較長(zhǎng)，一般不低于10年。的音頻放大器芯片NE5532生命周期長(zhǎng)達(dá)30年，至今依然是多款音響設(shè)備的標(biāo)配芯片。

數(shù)字IC測(cè)試儀的研究

隨著集成電路技術(shù)的飛速發(fā)展,集成電路的測(cè)試技術(shù)已成為集成電路產(chǎn)業(yè)發(fā)展重要支撐之一,也是保證集成電路性能、質(zhì)量的關(guān)鍵手段之一。目前,集成電路測(cè)試儀一般價(jià)格比較高,但在電子實(shí)驗(yàn)室的實(shí)驗(yàn)中經(jīng)常需要測(cè)試中、小規(guī)模數(shù)字IC好壞,數(shù)字集成電路的測(cè)試又是一項(xiàng)經(jīng)常性的工作,所以,自己設(shè)計(jì)一臺(tái)經(jīng)濟(jì)實(shí)用的集成電路測(cè)試儀是非常必要的。北橋芯片提供對(duì)CPU的類型和主頻、內(nèi)存的類型和容量、ISA/PCI/AGP插槽、ECC糾錯(cuò)等支持。 

研究了國(guó)內(nèi)外集成電路測(cè)試技術(shù),提出了基于單片機(jī)系統(tǒng)的數(shù)字IC測(cè)試儀的設(shè)計(jì),設(shè)計(jì)包括硬件系統(tǒng)設(shè)計(jì)和軟件系統(tǒng)設(shè)計(jì)。的重點(diǎn)是硬件系統(tǒng)電路設(shè)計(jì)。設(shè)計(jì)包括AT89C52單片機(jī)的選擇,可編程I/O接口,電源系統(tǒng)、鍵盤(pán)、復(fù)位電路,LED顯示接口CH451,計(jì)算機(jī)與單片機(jī)串行通信接口MAX232,測(cè)試插座接口,上位計(jì)算機(jī)等。硬件系統(tǒng)各功能單元電路的設(shè)計(jì)全部采用模塊化,每部分電路的選擇都經(jīng)過(guò)比較和優(yōu)化設(shè)計(jì),便于以后硬件的升級(jí)。 針對(duì)單片機(jī)電源電路帶負(fù)載能力的擴(kuò)流和測(cè)試插座接口電路的設(shè)計(jì)及數(shù)字IC測(cè)試向量編碼方法等方面進(jìn)行了改進(jìn),提高了硬件系統(tǒng)的可靠性,簡(jiǎn)化了軟件編程,并借助EDA技術(shù)進(jìn)行了驗(yàn)證。在Intel以前所做的解釋中，可以知道藉由導(dǎo)入這個(gè)技術(shù)，能減少因物理現(xiàn)象所導(dǎo)致的漏電現(xiàn)象。

數(shù)字ic時(shí)鐘種類有哪些？

在開(kāi)展數(shù)字ic電路設(shè)計(jì)設(shè)計(jì)過(guò)程中，無(wú)論是ASICFPGA，系統(tǒng)軟件數(shù)字時(shí)鐘的可信性，十分重要。設(shè)計(jì)方案欠佳的數(shù)字時(shí)鐘在限的溫度、工作電壓或生產(chǎn)制造加工工藝的誤差狀況下將造成 錯(cuò)誤的行為。而且一般和數(shù)字時(shí)鐘有關(guān)的難題，在調(diào)節(jié)全過(guò)程中，難度系數(shù)很大、精準(zhǔn)定位較難、開(kāi)銷非常大。SM1對(duì)稱密碼算法：一種分組密碼算法，分組長(zhǎng)度為128位，密鑰長(zhǎng)度為128比特。

數(shù)字ic時(shí)鐘種類

一般數(shù)字時(shí)鐘可分成以下四種種類：全局性數(shù)字時(shí)鐘、自動(dòng)門(mén)數(shù)字時(shí)鐘、多級(jí)別邏輯性數(shù)字時(shí)鐘和起伏式數(shù)字時(shí)鐘?？墒窃诰唧w工作上，一個(gè)設(shè)計(jì)方案里邊，通常全是多時(shí)鐘系統(tǒng)，即包含所述四種數(shù)字時(shí)鐘種類的隨意組成。