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SPI設(shè)備和AOI設(shè)備有什么不同呢?它們各自有什么特點(diǎn)?下面為你講解SPI和AOI的區(qū)別在哪些地方:品質(zhì)控制:覆蓋一些人工檢測(cè)的缺陷,包括(原件偏立、元件少錫、焊點(diǎn)短路、焊點(diǎn)虛焊、元件反向、元件錯(cuò)裝、元件變形、元件漏裝、元件豎起。)工藝過(guò)程控制:AOI配備有信息分析終端(IAT)可實(shí)際臨時(shí)檢測(cè)焊點(diǎn)質(zhì)量,實(shí)時(shí)生成統(tǒng)計(jì)圖表,將故障發(fā)生的種類及頻率等信息實(shí)時(shí)反饋給生產(chǎn)部門,以便于生產(chǎn)部門及時(shí)發(fā)現(xiàn),生產(chǎn)過(guò)程中的問(wèn)題并盡早修正,從而從便時(shí)間和物料的損耗降到低。
AOI雖然具有比人工檢測(cè)更高的效率,但畢竟是通過(guò)圖像采集和分析處理來(lái)得出結(jié)果,而圖像分析處理的相關(guān)軟件技術(shù)目前還沒(méi)達(dá)到人腦的級(jí)別,因此,在實(shí)際使用中的一些特殊情況,AOI的誤判、漏判在所難免。目前AOI使用中存在的問(wèn)題有:多錫、少錫、偏移、歪斜的工藝要求標(biāo)準(zhǔn)界定不同,容易導(dǎo)致誤判。電容容值不同而規(guī)格大小和顏色相同,容易引起漏判。
檢測(cè)誤判的定義及存在原困 誤判的理解及產(chǎn)生原因: 元件及焊點(diǎn)無(wú)不良傾向,但由于DFM設(shè)計(jì)時(shí)未考慮AOI的可測(cè)性,而造成AOI判定良與否有一定的難度,為保證檢出效果,將 引入一些誤判。如焊盤設(shè)計(jì)的過(guò)窄或過(guò)短,AOI進(jìn)行檢測(cè)時(shí)較難進(jìn)行很準(zhǔn)確的判定,此類情況所造成的誤判較難消除,除非改進(jìn) DFM或放棄此類元件的焊點(diǎn)不良檢測(cè)。