FCT功能測(cè)試系統(tǒng)概述

功能測(cè)試（FT：Functional Test或FCT：Functional Circuit Test）指的是對(duì)測(cè)試目標(biāo)板（UUT：Unit Under Test）的提供模擬的運(yùn)行環(huán)境，加載合適的激勵(lì)或負(fù)載，使UUT工作于各種設(shè)計(jì)、工作狀態(tài)，從而獲取UUT點(diǎn)的輸出參數(shù)和響應(yīng)情況，進(jìn)行驗(yàn)證UUT的功能是否良好的測(cè)試方法，測(cè)量輸出端響應(yīng)是否合乎要求。上述情況的發(fā)生，尤其是在UUT的厚度發(fā)生較大變化時(shí)更容易產(chǎn)生。

FCT測(cè)試系統(tǒng)分類(lèi)

按操作模式

依操作模式的不同，功能測(cè)試系統(tǒng)可以分為手動(dòng)控制功能測(cè)試、半自動(dòng)控制功能測(cè)試、全自動(dòng)控制功能測(cè)試。早期的功能測(cè)試基本以手動(dòng)和半自動(dòng)為主，即使到2015年，對(duì)于簡(jiǎn)單的被測(cè)目標(biāo)（UUT），有時(shí)依然采用手動(dòng)或半自動(dòng)的當(dāng)時(shí)，這主要是為了簡(jiǎn)化設(shè)計(jì)和降低成本。隨著科技能力和工業(yè)化水平的提高以及產(chǎn)業(yè)集群的發(fā)展，為了好的保證質(zhì)量和提率，目前的功能測(cè)試主要以全自動(dòng)方式為主，本方案即按此方式設(shè)計(jì)。自動(dòng)化FCT測(cè)試設(shè)備大都基于開(kāi)放式硬、軟件體系結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，能夠靈活地?cái)U(kuò)展硬件，快捷方便的建立測(cè)試程序。

功能測(cè)試（FCT）一般專(zhuān)指PCBA上電后的測(cè)試，主要包括電壓、電流、功率、功率因素、頻率、占空比、亮度與顏色、字符識(shí)別、聲音識(shí)別、溫度測(cè)量、壓力測(cè)量、運(yùn)動(dòng)控制、FLASH和EEPROM燒錄等測(cè)試項(xiàng)目。自動(dòng)化FCT測(cè)試設(shè)備大都基于開(kāi)放式硬、軟件體系結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，能夠靈活地?cái)U(kuò)展硬件，快捷方便的建立測(cè)試程序；一般可以做到支持多種儀器，可以靈活的按需進(jìn)行配置；FCT測(cè)試系統(tǒng)硬件主要組成由測(cè)試機(jī)臺(tái),控制單元,測(cè)試設(shè)備三部分組成：1。而且要具有豐富的基本測(cè)試項(xiàng)目，可能地為用戶(hù)提供通用、靈活、規(guī)范的解決方案。