KOAN 恒溫晶振頻率老化率

在恒定的環(huán)境條件下測量振蕩器頻率時，振蕩器頻率和時間之間的關系。這種長期頻率漂移是由晶體元件和振蕩器電路元件的緩慢變化造成的，因此，其頻率偏移的速率叫老化率，可用規(guī)定時限后的大變化率（如±10ppb/天，加電 72 小時后），或規(guī)定的時限內大的總頻率變化（如：±1ppm/（首年）和±5ppm/（十年））來表示。

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影響 KOAN 恒溫晶振頻率漂移（老化）的主要機理

1) 引起晶振頻率漂移的是石英諧振器的參數(shù)，動態(tài)電容和動態(tài)電感隨時間而變化；

2) 加在石英片的機械應力變化引起的頻率漂移，稱為馳豫效應；

3) 晶片表面污染和或封裝盒內部污染也是造成諧振器老化的一個重要原因；

4) 流過諧振器激勵電流的大小對老化率有影響；

5) 振蕩電路和恒溫控制電路中有源和無源元件的老化也會影響振蕩頻率的老化率。

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KOAN 恒溫晶振的長期和短期頻率穩(wěn)定度概念解釋

低老化率晶振是指長期穩(wěn)定度比較好，低噪聲晶振是指短期頻率穩(wěn)定度比較好。低老化率晶振都是指恒溫晶振，無論低噪聲晶振或低老化晶振，都要求石英諧振器的 Q 值盡可能高。低老化率晶振和低噪聲晶振的設計，在有些方面是互相矛盾的，因此選擇恒溫晶振參數(shù)中低老化率和低噪聲時，要結合產品的長期和短期頻率穩(wěn)定度要求，KOAN 恒溫晶振已經(jīng)使矛盾兼顧平衡。