顯微鏡測(cè)量模式及比對(duì)模式,可搭配GSM

顯微鏡測(cè)量模式：具有測(cè)量模式及比對(duì)模式，可搭配GSM-C289A軟件進(jìn)行分析。 1、繪圖——可以在計(jì)算機(jī)顯示器上很方便地觀察金相圖像，并對(duì)金相圖譜進(jìn)行分析，評(píng)級(jí)等。結(jié)合光學(xué)影像量測(cè)系統(tǒng)，對(duì)工件進(jìn)行高度的光學(xué)量測(cè)，并可以以EXCEL、WORD、TXT格式輸出做數(shù)據(jù)分析，并可以用DFX格式輸出在CAD中進(jìn)行工程圖的設(shè)計(jì)。 2、 測(cè)量——可測(cè)量平面上的任何幾何圖形之尺寸（角度、長(zhǎng)度、直徑、半徑、點(diǎn)到線的距離、圓的偏心、兩圓間距等） 3、 標(biāo)注——可在實(shí)時(shí)影像中的實(shí)際工件上標(biāo)注各種幾何尺寸。 4、 拍照——可拍下實(shí)物照片，包括所標(biāo)注的尺寸。

使用顯微鏡時(shí)應(yīng)注意的事項(xiàng)

使用顯微鏡時(shí)應(yīng)注意的事項(xiàng) 1）操作者的手必須洗凈擦干，并保持環(huán)境的清潔、并保持環(huán)境的清潔、干燥； 2）用低壓鎢絲燈泡作光源時(shí)，接通電源必須通過變壓器，切不可誤接在220V電源上； 3）更換物鏡、目鏡時(shí)要格外小心，嚴(yán)防失手落地； 4）調(diào)節(jié)物體和物鏡前透鏡間軸向距離(以下簡(jiǎn)稱聚焦)時(shí)，必須首先弄清粗調(diào)旋鈕轉(zhuǎn)向與載物臺(tái)升降方向的關(guān)系。應(yīng)該先用粗調(diào)旋鈕將物鏡調(diào)至盡量靠近物體，但可接觸。然后仔細(xì)觀察視場(chǎng)內(nèi)的亮度并同時(shí)用粗調(diào)旋鈕緩慢將物鏡向遠(yuǎn)離物體方向調(diào)節(jié)。待視場(chǎng)內(nèi)忽然變得明亮甚至出現(xiàn)映象時(shí)，換用微調(diào)旋鈕調(diào)至映象清晰為止。 5）用油系物鏡時(shí)，滴油量不宜過多，用完后必須立即用二洗凈、擦干； 6）待觀察的試樣必須完全吹干，用浸蝕過的試樣吹干時(shí)間要長(zhǎng)些，因?qū)︾R片有嚴(yán)重腐蝕作用。

正置與倒置金相顯微鏡的區(qū)別

了解正置與倒置金相顯微鏡的主要區(qū)別： 倒置金相顯微鏡:主要適用對(duì)各種金屬和合金材料的組織結(jié)構(gòu)、鑄件質(zhì)量以及熱處理后相位組織進(jìn)行研究分析工作，是金屬學(xué)研究的必備儀器，由于試樣的觀察面倒置不受高度限制，在制備試樣時(shí)只要一個(gè)觀察面平整即可。 正置金相顯微鏡具有和倒置金相顯微鏡同樣的基本功能，因此更廣泛的應(yīng)用于透明，半透明或不透明物質(zhì)。大于3 微米小于20微米觀察目標(biāo)，比如金屬陶瓷、電子芯片、印刷電路、LCD基板、薄膜、纖維、顆粒狀物體、鍍層等材料表面的結(jié)構(gòu)、痕跡，都能有很好的成像效果。

金相試樣選取合適、有代表性的

選取金相試樣 選取合適、有代表性的金相試樣是金相分析研 究中至關(guān)重要的一步。一種是系統(tǒng)取樣，試樣要有代表性。另一種是取樣，即根據(jù)所研究的問題，有針對(duì)性地取樣。要做好這項(xiàng)工作，首先必須了解和熟悉各合號(hào)的用途、檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)、質(zhì)量狀況等特點(diǎn)。 對(duì)于各牌號(hào)樣品的選取，要特別關(guān)注其代表性和合格性。為了制作圖片時(shí)更有選擇性，通常一個(gè)牌號(hào)同時(shí)選取幾片試樣，而且通常各牌號(hào)的同一個(gè)金相試樣磨面，在高倍顯微鏡下具有上萬個(gè)視場(chǎng)，每個(gè)視場(chǎng)的圖像千變?nèi)f化，都存在著差異，所以選取制作真正有代表性的圖像還必須在攝制圖像的時(shí)候仔細(xì)觀測(cè)和篩選。對(duì)于特色樣品的選取要有針對(duì)性。尤其是有缺陷類型的，其樣品的收集必須要在生產(chǎn)檢測(cè)中及時(shí)和長(zhǎng)期的跟蹤。