有N通道的光電直讀光譜儀使用的是表面涂有氟化鎂的透鏡表面沾有少量的水分就會破壞氟化鎂涂層，因此不能浸泡在存放于密閉性能不好的容器中或者已經(jīng)使用了較長時間只剩一點兒的清洗液中,也不能用綢布反復用力擦拭,否則會擦壞氟化鎂涂層。

排灰管道排灰管道是用來對儀器內(nèi)部的灰塵進行排除的，還有過濾，對儀器自身的潔凈很重要。檢查管道確認。氣純度一些外界因素引發(fā)的光強值下降。

氣不純是一個重要因素。不純中水分等雜質(zhì)會影響激發(fā)效果，降低光強值,而且水分經(jīng)激發(fā)電離后產(chǎn)生氧，氧會吸收P、S等短波元素使這些元素的光強值下降,從而分析結(jié)果出現(xiàn)偏差?？梢栽跉夤艿乐屑又脷鈨艋b置以提高純凈度。

但有些如高含量試樣對氬氣純度要求太高;即使是高純氬也不能完全激發(fā)，這時需適當延長預沖的時間或提高激發(fā)光源的頻率,使試樣完全激發(fā)提高光強值,以得到準確的檢測結(jié)果。 次數(shù)用完API KEY 超過次數(shù)限制

斯派克的客戶在使用火花直讀光譜儀的過程中會遇到各種問題，現(xiàn)小編綜合概況如下，希望對大家有所幫助：

清理火花臺：激發(fā)時金屬材料在火花臺內(nèi)產(chǎn)生黑色沉積物可導致電極與火花臺之間短路，所以火花臺應定期清理。方法如下：松開螺絲取下火花臺板及電極（包括墊片和電極上的玻璃套管），用吸塵器清理火花臺內(nèi)部。完畢后將火花臺復位。

判斷激發(fā)斑點

濃縮（凝聚）放電—激發(fā)點中心處侵蝕均勻并有金屬光澤，此為正常放電表明儀器工作正常；

擴散放電—激發(fā)點呈白色，強度值低，樣品表面無侵蝕，為非正常放電，應檢查激發(fā)過程，包括亞氣、試樣等。 次數(shù)用完API KEY 超過次數(shù)限制

直讀光譜儀器日常分析中造成曲線漂移的因素很多：透鏡受到污染形成涂層、激發(fā)過程中電極長尖會使曲線顯示背景增大，亞氣流量、壓力、純度和室溫環(huán)境的變化等原因會造成曲線的漂移，因此，經(jīng)常校正工作曲線是非常重要的。選擇一組標準化樣品是不易的，其中包括所有要分析元素的高含量和低含量，這些標準化樣品必須均勻一致，激發(fā)光譜分析的數(shù)據(jù)重復性必須很高。同時，標準化樣品的數(shù)量應盡可能少些，因為標準化樣品價格昂貴，且對每個樣品的操作又需要額外時間。直讀光譜儀器為什么要選擇高低標樣？在單點標準化中，只需要高或低含量的標準。如果樣品覆蓋的含量范圍較寬，又要在低含量時有較高的精度，此時才需要兩點標準化，這時要有兩種標樣，一為高標，一為低標。用第二種方法制備樣品，并以激發(fā)時收集到的基體元素Al的光強來比較各種制樣方法的差異。或者每個標樣中包含一些高濃度元素和另一些低濃度元素，只要它們能包括所有元素就行。 次數(shù)用完API KEY 超過次數(shù)限制

在實際分析中會受到第三元素的影響，這些干擾從何而來，我們能夠克服它們得到一個好的分析結(jié)果嗎？直讀光譜儀應用的過程中受那些干擾?直讀光譜儀中有關第三元素影響的問題

當選擇了不適宜的基體內(nèi)標時，由于基體含量的變化造成分析線對相對強度的變化，影響結(jié)果的穩(wěn)定。當用鐵內(nèi)標進行低合金鋼分析時，要求基體含量基本不變。

第三元素的存在影響試樣的蒸發(fā)過程。蒸發(fā)過程對譜線強度的影響是復雜的，所得研究規(guī)律還很不完善，仍屬定性的經(jīng)驗規(guī)律。所以分析時應采用與試樣組成及組織結(jié)構(gòu)盡量一致的標準樣品或控制樣品。

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