鋁電解電容器的失效可分為擊穿或者發(fā)熱。擊穿壓力閥動(dòng)作，電容器或內(nèi)部鋁箔短路打火。發(fā)熱是指壓力閥開(kāi)或套管受熱，電容量、漏電流、損耗增大，電容器性能下降。所以，電解液的成分和電容器部件的兼容性也是很關(guān)鍵的一個(gè)方面。因此，腐蝕在電解液中的應(yīng)用變得尤為關(guān)鍵。腐蝕對(duì)金屬造成的影響有外觀、表面或機(jī)械和電氣性能的變化。在鋁電解電容器中，腐蝕會(huì)造成絕緣層的損壞并且在工作過(guò)程中會(huì)產(chǎn)生大量氣體（尤其在高溫，高壓和高紋波電流時(shí)）。因此，為了調(diào)查由特定電解質(zhì)造成的腐蝕探究一個(gè)簡(jiǎn)單可行的腐蝕試驗(yàn)方法是極其有價(jià)值的。

鋁電解電容器非固體鋁電解電容

鋁電解電容 失效模式

基本概念：

失效：指的是零部件失去原有設(shè)計(jì)所規(guī)定的功能

失效機(jī)理：引起失效的物理、化學(xué)或其他的原因和過(guò)程。比如過(guò)載，腐蝕等失效模式：失效的形式，比如開(kāi)路，短路，漏電等。

周?chē)鷾囟葘?duì)壽命的影響體現(xiàn)在電容量的減少、損耗角正切值的增大，這些現(xiàn)象起因是電解液從封口部分向外部漸漸擴(kuò)散。電性能的時(shí)間變化和周?chē)鷾囟戎g的關(guān)系可得出下列公式。

貼片鋁電解電容器輕薄短小、性能優(yōu)異一直是電子產(chǎn)品的發(fā)展主流,容全電子除了主要生產(chǎn)超小型、耐高溫、長(zhǎng)壽命、低阻抗等電解電容器產(chǎn)品, 配合客戶(hù)研發(fā)制造高壓電容、芯片型電容、螺絲型電容、有機(jī)半導(dǎo)體固態(tài)電容(polymer e-cap)、芯片型鉭質(zhì)電容與高儲(chǔ)能電容,并配合汽車(chē)電子信息化趨勢(shì),發(fā)展車(chē)用電子產(chǎn)品應(yīng)用領(lǐng)域.應(yīng)用范圍：工業(yè)電子：開(kāi)關(guān)電源，數(shù)控設(shè)備，逆變器，變頻器等家用電子：數(shù)字電視，數(shù)碼相機(jī)，遙控器，lcd-tv等汽車(chē)電子：gps，汽車(chē)音響，車(chē)載等網(wǎng)絡(luò)通訊：，程控交換機(jī)，手機(jī)等it數(shù)碼：電腦主板，顯卡，lcd，掃描儀，ups等