測(cè)試， High Current Test耐電流測(cè)試

HCT耐電流測(cè)試是耐電流測(cè)試的一種方法。測(cè)試中，孔鏈被施加一恒定的直流電流,使得孔鏈在設(shè)定的時(shí)間(t1-t0)內(nèi)升高到設(shè)定的高溫T1，然后繼續(xù)施加此電流,使得孔鏈在溫度T1至T2范圍以內(nèi),保持設(shè)定的時(shí)間(t2-t1),然后停止施加電流，使孔鏈冷卻時(shí)間(t3-t2),直到達(dá)到室溫。只有在測(cè)試燈熄滅狀態(tài),無高壓輸出狀態(tài)時(shí),才能進(jìn)行被試品連接或拆卸操作。

在測(cè)試過程中，需要實(shí)時(shí)檢測(cè)孔鏈的電阻，電流。

耐電流參數(shù)測(cè)試

由于不同PCB產(chǎn)品的孔種類，孔徑，厚度，基材類型等設(shè)計(jì)以及制作工藝不同，達(dá)到相同HCT測(cè)試要求時(shí)，需要直流電流各不相同.

因此，對(duì)某種測(cè)試孔鏈進(jìn)行HCT測(cè)試之前，需要通過多次嘗試,為此種孔鏈找到合適的直流電流，使得此種孔鏈樣品能在此電流下達(dá)到測(cè)試要求,即,

1) 在t0至（t1 -容差）時(shí)間內(nèi)，樣品的溫度升高達(dá)到T1；

2) 在t1至t2時(shí)間范圍內(nèi)，樣品的溫度保持在T1至T2之間；

耐電流參數(shù)測(cè)試儀主要特點(diǎn)如下

雙面測(cè)試

對(duì)于測(cè)試樣品孔鏈為在電路板兩面對(duì)稱設(shè)計(jì)時(shí)，儀器可以使用雙面測(cè)試，即對(duì)兩面的兩個(gè)孔鏈同時(shí)施加測(cè)試電流，測(cè)試上表面孔鏈的溫度。

●初始電阻篩選

可以設(shè)定測(cè)試前初始電阻的上下限閥值，符合初始電阻要求的樣品才繼續(xù)進(jìn)行測(cè)試。

●測(cè)試過程數(shù)據(jù)曲線顯示

測(cè)試過程中，樣品的溫度，溫度變化速度，電阻，電流分別實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)顯示。

數(shù)據(jù)曲線均可以雙擊放大進(jìn)行觀察分析。