大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

RETS-100閃電發(fā)貨OTSUKA相位差/光學(xué)材料量測設(shè)備,日本大塚電子；

FPD相關(guān)的檢查和評價設(shè)備：

動態(tài)畫面反應(yīng)時間檢測儀：MPRT-2000,

相位差/光學(xué)材料量測設(shè)備：RETS-100,

發(fā)貨OTSUKA,日本大塚電子液晶顯示器LCD面板LCD-5200；

本設(shè)備是利用瞬間多通道測光檢出器和自動大型Ｘ－Ｙ平臺以及偏光光學(xué)系，測定透過型液晶面板面內(nèi)的cellgap和預(yù)斜角（含ＭＶＡ）的系統(tǒng)。

  本Software自動制御偏光Prism unit和MCPD，測量LCD Cell Gap以及Pre-tilt角的測量。每個Sample品種，會準(zhǔn)備Recipe（測量條件File）所以O(shè)perator 放置Sample后，選擇Recipe，即可實現(xiàn)測量。

測定haze補正用樣品（與被測定樣品相同haze特性AG-TAC）,取得其補正table. 反復(fù)性能。(保證值)是利用本裝置附屬的基準(zhǔn)樣本(偏光板)的測量結(jié)果（0.1s間隔 定點15回連續(xù)測量）。將粘貼面有漏出的樣品貼合與樣品治具上，反轉(zhuǎn)治具測定，玻璃上貼附樣品的場合，將超出部分的film定位與基準(zhǔn)面，只反轉(zhuǎn)樣品進行測定。因本系統(tǒng)為精密光學(xué)測定裝置，作為設(shè)置場所，請考慮以下條件。

 偏光計測模組是用CCD camera的1shot來獲取多角度的偏光強度pattern，因與以往的偏光計測裝置相比，其無偏光子回旋機構(gòu)，故其可維持其的測定及穩(wěn)定的性能。用基準(zhǔn)Sample實施設(shè)備，偏光prism unit的角度校正和基準(zhǔn)Sample自身的Retardation測量。此外，反射用偏光子的角度校正可同時進行。