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指標(biāo)差的校正,安置整平儀器后,盤左盤右分別用望遠(yuǎn)鏡的橫絲瞄準(zhǔn)
指標(biāo)差的校正,安置整平儀器后,盤左盤右分別用望遠(yuǎn)鏡的橫絲瞄準(zhǔn)同一目標(biāo),讀出盤左、盤右天頂距讀數(shù),i=(R L-360°)÷2,指標(biāo)差同2C一樣,也是在只做半測回觀測時(shí)產(chǎn)生影響,其一般也不超過30″。校正方法,首先算出i值,根據(jù)公式:R(正確)=R-i,算出正確的盤右天頂距讀數(shù),對(duì)于帶指標(biāo)水準(zhǔn)管的經(jīng)緯儀,調(diào)節(jié)指標(biāo)水準(zhǔn)管微傾螺旋,使豎盤盤右讀數(shù)為R(正確),此時(shí),豎盤指標(biāo)水準(zhǔn)管氣泡已經(jīng)不重合,調(diào)節(jié)指標(biāo)水準(zhǔn)管校正螺絲,讓指標(biāo)水準(zhǔn)管氣泡重和。對(duì)于帶補(bǔ)償裝置的經(jīng)緯儀,算出R(正確)后,通過調(diào)節(jié)補(bǔ)償裝置上的兩個(gè)調(diào)節(jié)螺絲,使盤右讀數(shù)達(dá)到R(正確),從而完成指標(biāo)差的校正。
全站儀的校正基本和經(jīng)緯儀的檢校內(nèi)容
全站儀的校正
全站儀的校正基本和經(jīng)緯儀的檢校內(nèi)容基本相同,同樣是對(duì)點(diǎn)器、圓水準(zhǔn)器、管水準(zhǔn)器、2C、指標(biāo)差這幾項(xiàng)內(nèi)容。由于現(xiàn)在測量儀器設(shè)備的不斷更新、發(fā)展,全站儀的校正方法也發(fā)生了很大的變化。對(duì)于帶激光對(duì)點(diǎn)、電子管水準(zhǔn)器的站儀,如Leica全站儀,其儀器校正是通過其儀器內(nèi)部的自帶程序完成。對(duì)于不帶電子管水準(zhǔn)器的全站儀,如TOPCON、南方等全站儀,其儀器的校正部分和經(jīng)緯儀相同,部分靠儀器內(nèi)部的自帶程序來完成。具體方法如下:對(duì)點(diǎn)器、圓水準(zhǔn)器、管水準(zhǔn)器、2C這幾項(xiàng)的校正和經(jīng)緯儀一樣。指標(biāo)差的校正則是通過調(diào)用儀器自帶的校正程序來完成,按住F1鍵開機(jī),進(jìn)入垂直角校正程序,按提示步驟,盤左、盤右觀測天頂距,觀測完成后按設(shè)置鍵即可。注意,由于全站儀的照準(zhǔn)分別是光學(xué)照準(zhǔn)、電照準(zhǔn),因此在全站儀的校正中,除2C的校正可以通過調(diào)節(jié)十字絲的左右調(diào)節(jié)螺絲來完成,指標(biāo)差的校正不允許調(diào)節(jié)十字絲上下調(diào)節(jié)螺絲,否則可能會(huì)導(dǎo)致儀器光學(xué)照準(zhǔn)和電照準(zhǔn)出現(xiàn)偏差,當(dāng)儀器望遠(yuǎn)鏡瞄準(zhǔn)棱鏡中心后,儀器觀測無接受信號(hào),距離無法測出。其校正方法,安置整平儀器,并瞄準(zhǔn)遠(yuǎn)處的棱鏡中心,利用豎直微動(dòng)螺旋,上下轉(zhuǎn)動(dòng)儀器直到儀器能接受到反射信號(hào),此時(shí),望遠(yuǎn)鏡的十字絲已經(jīng)偏離了棱鏡中心,調(diào)節(jié)十字絲上下調(diào)節(jié)螺絲,使十字絲中心同棱鏡中心重合,校正完成。
正射投影儀將具有傾斜和地面起伏的中心投影像片變換成正射影像圖
正射投影儀
將具有傾斜和地面起伏的中心投影像片變換成正射影像圖的攝影測量儀器。正射影像圖具有成圖快速、信息豐富、直觀易識(shí)等特點(diǎn),正射投影儀一般分光學(xué)投影和電子投影兩類,可以聯(lián)機(jī)或脫機(jī)作業(yè),制作正射影像圖。
測繪儀器(surveyinstrument):為了測繪工作而設(shè)計(jì)制造的數(shù)據(jù)采集、處理、輸出等儀器和裝置。在工程建設(shè)中規(guī)劃設(shè)計(jì)、施工及經(jīng)營管理階段進(jìn)行測量工作所需用的各種定向、測距、測角、測高、測圖以及攝影測量等方面的儀器。
常用測繪儀器:GPS、全站儀、水準(zhǔn)儀、經(jīng)緯儀、激光測量儀器、靜力水準(zhǔn)儀等。
國內(nèi)電子計(jì)測技術(shù)及電子測量儀器的發(fā)展迅速
電子測量儀器具有的關(guān)聯(lián)戰(zhàn)略性產(chǎn)業(yè),它自身的發(fā)展好壞,對(duì)整個(gè)國民經(jīng)濟(jì)特別是電子信息產(chǎn)業(yè)的發(fā)展有著十分明顯的影響。我國的電子測量儀器市場龐大,需求量大,電子測量儀器對(duì)電子信息產(chǎn)業(yè)的發(fā)展起到至關(guān)重要的作用。
國內(nèi)電子計(jì)測技術(shù)及電子測量儀器的發(fā)展迅速,遍及各行各業(yè),、電子計(jì)測技術(shù)基礎(chǔ)理論研究:新的測試?yán)碚摵头椒ㄑ芯俊⑷斯ぶ悄芾碚撗芯?、頻率基溯源與標(biāo)準(zhǔn)器獲得方法研究、新型測控總線及系統(tǒng)結(jié)構(gòu)研究、測量與儀器標(biāo)準(zhǔn)的研究與制定等都是今后在理論研究方面的重點(diǎn)。第二、電子計(jì)測技術(shù)的發(fā)展:發(fā)展較快的技術(shù)有先進(jìn)測控總線技術(shù)、數(shù)字信號(hào)處理新技術(shù)、綜合測試與故障診斷新技術(shù)、光頻標(biāo)和精密時(shí)頻測試新技術(shù)等。第三、二類重要電子測量儀器:矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的一個(gè)重要發(fā)展方向是構(gòu)建以矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀為核心的自動(dòng)測量技術(shù)和自動(dòng)測試系統(tǒng);