X射線熒光鍍層測厚儀  

一六儀器快速精準(zhǔn)分析膜厚儀穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng),先進的解譜方法，解決各種大小多層多元素的涂鍍層厚度分析

微聚焦射線裝置:可檢測面積小于0.002mm2的樣品,可測試各微小的部件.

測厚儀分類：

1.超聲波測厚儀超聲波在各種介質(zhì)中的聲速是不同的，但在同一介質(zhì)中聲速是一常數(shù)。超聲波在介質(zhì)中傳播遇到第二種介質(zhì)時會被反射，測量超聲波脈沖從發(fā)射至接收的間隔時間，即可將這間隔時間換算成厚度。在電力工業(yè)中應(yīng)用廣的就是這類測厚儀。常用于測定鍋爐鍋筒、受熱面管子、管道等的厚度，也用于校核工件結(jié)構(gòu)尺寸等。這類測厚儀多是攜帶式的，體積與小型半導(dǎo)體收音機相近，厚度值的顯示多是數(shù)字式的。對于鋼材，大測定厚度達(dá)2000 mm左右，精度在±0.01～±0.1 mm之間。第二,在X射線測厚儀通過施加高壓釋放出X射線時,X射線途經(jīng)環(huán)境的溫度濕度也會影響X射線對被測物體的測量。

2.磁性測厚儀在測定各種導(dǎo)磁材料的磁阻時，測定值會因其表面非導(dǎo)磁覆蓋層厚度的不同而發(fā)生變化。利用這種變化即可測知覆蓋層厚度值。常用于測定鐵磁金屬表面上的噴鋁層、塑料層、電鍍層、磷化層、油漆層等的厚度。

江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的高新技術(shù)企業(yè)，歡迎有各種涂鍍層、膜層的檢測難題來電咨詢！。

測厚儀

    測厚儀（thickness gauge ）是用來測量材料及物體厚度的儀表。在工業(yè)生產(chǎn)中常用來連續(xù)或抽樣測量產(chǎn)品的厚度（如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料）。

介紹：測厚儀可以用來在線測 量軋制后的板帶材厚度，并以電訊號的形式輸出。該電訊號輸給顯示器和自動厚度控制系統(tǒng)，以實現(xiàn)對板帶厚度的自動厚度控制（AGC）。 目前常見的測厚儀有γ射線、β射 線、x射線及同位素射線等四種，其安放位置均在板帶軋機的出口或入 口側(cè)。設(shè)計、安裝測厚儀時要在可能的條件下盡量靠近工作輥，目的是降低板厚的滯后調(diào)整時間。測厚儀測厚儀（thicknessgauge）是用來測量材料及物體厚度的儀表。

能量色散X射線熒光光譜儀技術(shù)原理

江蘇一六儀器  國內(nèi)外通力合作打造高性價比X熒光測厚儀 

穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng),專利獨特聚焦和變距設(shè)計,多元EFP算法,簡便快速測試各種涂鍍層的厚度及成分比例

能量色散X射線的發(fā)生與特征當(dāng)用高能電子束照耀樣品時，人射高能電子被樣品中的電子減速，這種帶電拉子的負(fù)的加快度會發(fā)生寬帶的延續(xù)X射線譜，簡稱為延續(xù)潛或韌致輻射。

另一方面，化學(xué)元素遭到高能光子或粒子的照耀，如內(nèi)層電子被激起，則當(dāng)外層電子躍遷時，就會出特征X射線。

能量色散X射線是一種別離的不延續(xù)譜.假如激起光源為x射線，則受激發(fā)生的x射線稱為二次X射線或X射線熒光。特征X射線顯示了特征能量色散X射線熒光光譜儀發(fā)生的進程。

當(dāng)人射x射線撞擊原子中的電子時，如光子能量大于原子中的電子約束能，電子就會被擊出。這一互相效果進程被稱為光電效應(yīng)，被打出的電子稱為光電子。經(jīng)過研討光電子或光電效應(yīng)可以取得關(guān)于原子構(gòu)造和成鍵形態(tài)的信息。

一六儀器----鍍層測厚儀|光譜測厚儀|X-ray測厚儀|X熒光測厚儀|凃?qū)幽ず駜x

X射線測厚儀測量精度的影響因素有哪些

    我們要保證生產(chǎn)的產(chǎn)品厚度上是否可以，那么X射線測厚儀測量的精度是否準(zhǔn)確就非常重要了，如果X射線測厚儀的測量精度發(fā)生了偏差，那么生產(chǎn)出來的產(chǎn)品就不會！除了正常使用過程中X射線源會出現(xiàn)衰減,在出現(xiàn)某些故障是,也會發(fā)生突發(fā)性的衰減,出現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)化通過不過,反饋的電壓與工廠現(xiàn)場標(biāo)準(zhǔn)電壓相差巨大,發(fā)生這種情況,X射線測厚儀的測量精度肯定是不準(zhǔn)確的。由此可知測厚儀的測量精度有多么重要，因此，這次在這與大家分享下X射線測厚儀測量精度的影響因素有哪些:

首先,是X射線的高壓控制箱會對測量的精度造成一定的影響；

第二,在X射線測厚儀通過施加高壓釋放出X射線時,X射線途經(jīng)環(huán)境的溫度濕度也會影響X射線對被測物體的測量；

第三,在測量過程中,被測物體上,可能會有附著物,也會影響測量的精度；

第四,在生產(chǎn)過程中,補償值也會對X射線測厚儀的測量精度造成影響。