大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評價(jià)?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機(jī)EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評價(jià)?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

應(yīng)用范圍■光學(xué)薄膜

?相位差膜、橢圓膜、相位差板

?偏光膜、附加功能偏光膜、偏光板、其它光學(xué)材料

■液晶層

?穿透、半穿透型液晶層(TFT、TN、STN、IPS 、VA、OCB、強(qiáng)誘電性液晶)

?反射型液晶層(TN,STN)

在相位差膜等光學(xué)膜中，要求有高透明性、低光彈性率、耐熱性、耐光性、高表面硬度、高機(jī)械強(qiáng)度、大相位差、相位差的波長依存性小，以及相位差的入射角依存性小等特性。以往，作為表現(xiàn)透明樹脂材料光學(xué)各向異性的方法，可以進(jìn)行膜的拉伸配向。已知通過該拉伸配向，由聚甲i基丙i烯酸甲酯(P匿A)或聚乙烯(PS)所形成的膜顯示出負(fù)雙折射性，由聚^J吏酯(PC)或環(huán)烯烴類樹脂(COP)所形成的膜顯示出正雙折射性。

  本設(shè)備是利用瞬間多通道測光光譜儀以及偏光光學(xué)系高速測量透過型封入完成后的LCD Cell（TN,IPS,MVA）的Gap以及Pre-tilt角。附有自動XY-stage以及自動傾斜旋轉(zhuǎn)stage的2個(gè)Sample stage。Calibration時(shí)，自動set基準(zhǔn)sample。

  本軟件，通過自動制御偏光三棱鏡單元和瞬間多通道測光檢出器以及自動ＸＹ平臺來實(shí)施cellgap檢查每個(gè)樣品都備有檢查菜單，并且樣品可自動運(yùn)輸，操作員只需選擇檢查菜單便可輕松完成的測定。