蔡司  ConTURA   從容應(yīng)對(duì)各種挑戰(zhàn)--無(wú)論現(xiàn)在還是未來(lái)

ZEISS CMM CONTURA廣泛適用于各類(lèi)型工件的測(cè)量，在大批量復(fù)雜零部件的生產(chǎn)過(guò)程中，快速獲得清晰的測(cè)量結(jié)果至關(guān)重要。關(guān)鍵時(shí)刻，測(cè)量結(jié)果更須確鑿無(wú)疑。來(lái)自蔡司的工業(yè)測(cè)量技術(shù)保證了高水平的質(zhì)量控制。 ZEISS CMM CONTURA廣泛適用于各類(lèi)型工件的測(cè)量，固定平臺(tái)橋式機(jī)體設(shè)計(jì)，融合先進(jìn)的DLC鉆石涂層材質(zhì)橫梁和Z軸結(jié)構(gòu)，結(jié)合機(jī)器移動(dòng)時(shí)高穩(wěn)定設(shè)計(jì)，兼之高精度掃描測(cè)頭系統(tǒng)及眾多技術(shù)優(yōu)勢(shì)，確保了系統(tǒng)的精度及動(dòng)態(tài)性能；同時(shí)，高剛性結(jié)構(gòu)提高了系統(tǒng)對(duì)于環(huán)境的抗干擾性能及長(zhǎng)久的穩(wěn)定性。

蔡司三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)

需要注意的事

三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)在測(cè)量零件時(shí)，是用探針的寶石球與被測(cè)零件表面接觸，接觸點(diǎn)與系統(tǒng)傳輸?shù)膶毷蛑行狞c(diǎn)的坐標(biāo)相差一個(gè)寶石球的半徑，需要通過(guò)校驗(yàn)得到的探針的實(shí)測(cè)半徑值，對(duì)測(cè)量結(jié)果補(bǔ)償修正。

在選擇三坐標(biāo)測(cè)頭的過(guò)程中，常常出現(xiàn)是由預(yù)算決定配置，從而導(dǎo)致配置過(guò)剩或者配置不足的尷尬情況。

配置三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的測(cè)頭時(shí)，實(shí)際會(huì)面臨來(lái)自多個(gè)方面的選擇困難，比如“固定式還是旋轉(zhuǎn)式”、“掃描測(cè)頭還是觸發(fā)測(cè)頭”、“三軸聯(lián)動(dòng)還是五軸聯(lián)動(dòng)”、“接觸式測(cè)頭還是光學(xué)測(cè)頭”等等，而且還逃不開(kāi)預(yù)算的限制。雖然后一項(xiàng)因素有時(shí)能夠起到一票否決的作用，但我們有必要從技術(shù)角度了解各類(lèi)測(cè)頭的特點(diǎn)及適用場(chǎng)合和限制，以便在綜合條件下能夠選到適宜的測(cè)頭，滿足測(cè)量要求。

接觸式測(cè)頭采點(diǎn)

非接觸式光學(xué)測(cè)頭直接利用光點(diǎn)的反射信號(hào)來(lái)獲取被測(cè)點(diǎn)的坐標(biāo)，不存在半徑補(bǔ)償?shù)沫h(huán)節(jié)，因此能夠完全余弦誤差產(chǎn)生的源頭。再者，在測(cè)量易變性零件時(shí)，雖然測(cè)力不大，但零件還是會(huì)在力的作用下造成一定變形(例如下圖中的薄葉片，測(cè)量頂部截面時(shí)，葉盆時(shí)葉片受到測(cè)力影響朝葉背方向彎曲，反之亦然)。雖然彎曲變形量不大，但是考慮到葉片本身極薄，其相對(duì)變形量還是非?？捎^的，會(huì)對(duì)得出的輪廓度與位置度都造成非常大的影響。