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耐電流參數(shù)測試儀 High Current Parameter Tester HCT High current test耐電流測試儀
★HCT測試,High current test,耐電流測試,Current loading test
耐電流測試是測試PCB產(chǎn)品的孔互聯(lián)可靠性的一種測試方法。測試中,孔鏈被施加一恒定的直流電流,使得孔鏈在設(shè)定的時間(t1-t0)內(nèi)升高到設(shè)定的高溫T1,然后繼續(xù)施加此電流,使得孔鏈在溫度T1至T2范圍以內(nèi),保持設(shè)定的時間(t2-t1),然后停止施加電流,使孔鏈冷卻時間(t3-t2),直到達(dá)到室溫。耐電流測試是在特殊設(shè)計(jì)的孔鏈上施加一定的直流電流,并持續(xù)一段時間,電流在孔鏈上產(chǎn)生焦耳熱,熱量傳導(dǎo)到孔附近的基材,基材受熱膨脹, Z方向尺寸變大,產(chǎn)生膨脹應(yīng)力,作用于孔上下焊盤之間,當(dāng)孔的互聯(lián)可靠性不良時,膨脹應(yīng)力會導(dǎo)致孔斷裂,從而檢測出孔的互聯(lián)可靠性不良。
耐電流測試具有快速的特點(diǎn)。
耐電流測試具有直觀的特點(diǎn)。
耐電流測試具有全l面的特點(diǎn),所有印制電路板在制板上均可以設(shè)置孔鏈。
測試, High Current Test耐電流測試
HCT耐電流測試是耐電流測試的一種方法?!駨?qiáng)制風(fēng)冷測試恒溫完成后,可以選擇是否啟動強(qiáng)制風(fēng)冷對樣品進(jìn)行強(qiáng)制冷卻。測試中,孔鏈被施加一恒定的直流電流,使得孔鏈在設(shè)定的時間(t1-t0)內(nèi)升高到設(shè)定的高溫T1,然后繼續(xù)施加此電流,使得孔鏈在溫度T1至T2范圍以內(nèi),保持設(shè)定的時間(t2-t1),然后停止施加電流,使孔鏈冷卻時間(t3-t2),直到達(dá)到室溫。
在測試過程中,需要實(shí)時檢測孔鏈的電阻,電流。
耐電流參數(shù)測試
由于不同PCB產(chǎn)品的孔種類,孔徑,厚度,基材類型等設(shè)計(jì)以及制作工藝不同,達(dá)到相同HCT測試要求時,需要直流電流各不相同.
因此,對某種測試孔鏈進(jìn)行HCT測試之前,需要通過多次嘗試,為此種孔鏈找到合適的直流電流,使得此種孔鏈樣品能在此電流下達(dá)到測試要求,即,
1) 在t0至(t1 -容差)時間內(nèi),樣品的溫度升高達(dá)到T1;
2) 在t1至t2時間范圍內(nèi),樣品的溫度保持在T1至T2之間;
HDI板盲孔互聯(lián)失效原因
激光蝕孔時 能量過大 激光蝕孔法是目前制作盲孔的主要生產(chǎn)工藝,CO2激光雖然不能直接燒蝕銅層,但銅層如果經(jīng)過特殊處理,使其表面具有強(qiáng)烈吸收紅外線波長特性,就會使銅層在瞬間迅速提高到很高的溫度。直到找到合適的電流,PCB孔鏈樣品在此電流下,達(dá)到HCT測試要求。盲孔底部的內(nèi)層銅一般都經(jīng)過棕化處理,由于棕化后的銅表面對激光的反射較少,同時其粗糙的表面結(jié)構(gòu)增加了光的漫反射作用,從而增大了對光波的吸收,且棕化銅箱表面為有機(jī)層結(jié)構(gòu),也可以促進(jìn)光的吸收。因此激光打孔后如果激光能量過大,就有可能使盲孔底部的內(nèi)層銅表層發(fā)生再結(jié)晶,造成內(nèi)層銅組織發(fā)生變化。