光電直讀光譜儀（OES）

光電直讀光譜儀又被稱為火花源原子發(fā)射光譜儀，所采用的原理是用火花的高溫使樣品中各元素從固態(tài)直接氣化并被激發(fā)而發(fā)射出各元素的特征波長，用光柵分光后，成為按波長排列的“光譜”，這些元素的特征光譜線通過出射狹縫，照射在對(duì)應(yīng)的光電倍增管光陰極上，光信號(hào)變成電信號(hào)，經(jīng)儀器的控制測(cè)量系統(tǒng)將電信號(hào)積分并進(jìn)行模/數(shù)轉(zhuǎn)換，然后由計(jì)算機(jī)處理，計(jì)算出各元素的百分含量。

組成：其核心部件主要包括光源、分光系統(tǒng)、檢測(cè)器等。

用途：光電直讀光譜分析已成為一項(xiàng)成熟的分析技術(shù)，具有樣品處理簡(jiǎn)單、分析速度快、分析精度高、多元素同時(shí)分析等特點(diǎn)，幾乎所有的鋼鐵企業(yè)、有色金屬企業(yè)、鑄造及機(jī)械加工企業(yè)，以及其他采用金屬及其合金進(jìn)行加工利用的行業(yè)都采用光電直讀光譜儀進(jìn)行生產(chǎn)過程及產(chǎn)品質(zhì)量控制。

品牌：島津、牛津儀器 次數(shù)用完API KEY 超過次數(shù)限制

直讀光譜儀的校準(zhǔn)描跡是對(duì)光譜儀的光學(xué)系統(tǒng)進(jìn)行的校準(zhǔn)。這是校準(zhǔn)的首要前提。

在此條件下可進(jìn)行如下校準(zhǔn)：標(biāo)準(zhǔn)化即再校準(zhǔn)工作曲線，然后可用到的校準(zhǔn)方法有：(1)、修改持久工作曲線法（修改標(biāo)準(zhǔn)化參數(shù)）；(2)、控樣法；(3)、類型標(biāo)準(zhǔn)化法。

透鏡污染透鏡污染引發(fā)的光強(qiáng)值下降。透鏡安裝在光譜儀的分光室和火花室之間，起隔離分光室和火花室及匯聚譜線的作用。激發(fā)一定數(shù)量的試樣以后，火花室內(nèi)激發(fā)產(chǎn)生的灰燼等污染物及分光室內(nèi)真空泵長時(shí)間運(yùn)轉(zhuǎn)蒸騰產(chǎn)生的油污分子會(huì)污染透鏡的兩個(gè)表面,降低透鏡的透光性,引發(fā)光強(qiáng)值下降。因此，每隔規(guī)定的時(shí)間或分析了一定數(shù)量的試樣后，要將透鏡取下,浸泡在無水乙醇或其他清洗液中數(shù)十分鐘再用干凈的綢布擦拭干凈后裝上。 次數(shù)用完API KEY 超過次數(shù)限制

在直讀光譜儀上進(jìn)行分析的樣品均要求為塊狀固體。制備塊狀鋁箔樣品，途徑一是將樣品高溫加熱至熔融，然后冷卻使其凝結(jié)成塊狀；其二是通過機(jī)械外力作用把鋁箔壓制成結(jié)實(shí)的塊狀。前者對(duì)于分析一些易揮發(fā)性元素（As,Sn等）不利；此外，如果鋁箔樣品表面經(jīng)過鈍化等工藝處理，難于融結(jié)。

用第二種方法制備樣品，并以激發(fā)時(shí)收集到的基體元素Al的光強(qiáng)來比較各種制樣方法的差異。結(jié)果表明，由機(jī)械壓樣機(jī)破碎樣壓制制備的鋁箔樣品可勝任在直讀光譜儀上進(jìn)行快速分析，測(cè)定的結(jié)果與化學(xué)方法相一致，適合于日常檢驗(yàn)樣品量繁重的工廠、實(shí)驗(yàn)室、品質(zhì)檢驗(yàn)部門之樣品的制備及檢測(cè)。 次數(shù)用完API KEY 超過次數(shù)限制

國產(chǎn)直讀光譜分析儀器1928年以后，由于光譜分析成了工業(yè)的分析方法，光譜儀器得到迅速的發(fā)展，一方面改善激發(fā)光源的穩(wěn)定性，另一方面提高光譜儀器本身性能。六十年代光電直讀光譜儀，隨著計(jì)算機(jī)技術(shù)的發(fā)展開始迅速發(fā)展，1964年ARL公司展示一套數(shù)字計(jì)算和控制讀出系統(tǒng)。由于計(jì)算機(jī)技術(shù)的發(fā)展，電子技術(shù)的發(fā)展，電子計(jì)算機(jī)的小型化及微處理機(jī)的出現(xiàn)和普及，成本降低等原因、于上世紀(jì)的七十年代光譜儀器幾乎100%地采用計(jì)算機(jī)控制，這不僅提高了分析精度和速度，而且對(duì)分析結(jié)果的數(shù)據(jù)處理和分析過程實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化控制。 次數(shù)用完API KEY 超過次數(shù)限制