TOFD技術(shù)采用的基本物理原理。

TOFD技術(shù)采用的基本物理原理。

衍射現(xiàn)象的解釋:波遇到障礙物或小孔后通過(guò)散射繼續(xù)傳播的現(xiàn)象，根據(jù)惠更斯原理，媒質(zhì)上波陣面上的各點(diǎn)，都可以看成是發(fā)射子波的波源，其后任意時(shí)刻這些子波的包跡，就是該時(shí)刻新的波陣面。

TOFD技術(shù)采用一發(fā)一收兩個(gè)寬帶窄脈沖探頭進(jìn)行檢測(cè)，探頭相對(duì)于焊縫中心線對(duì)稱(chēng)布置。超聲檢測(cè)用途綜述可以快速便捷、無(wú)損傷、地進(jìn)行工內(nèi)部多種缺陷（裂紋、夾雜、氣孔等）的檢測(cè)、定位、評(píng)估和診斷。發(fā)射探頭產(chǎn)生非聚焦縱波波束以一定角度入射到被檢工件中，其中部分波束沿近表面?zhèn)鞑ケ唤邮仗筋^接收，部分波束經(jīng)底面反射后被探頭接收。接收探頭通過(guò)接收缺陷的衍射信號(hào)及其時(shí)差來(lái)確定缺陷的位置和自身高度。

2超聲檢測(cè)

優(yōu)點(diǎn)：

1.面積型缺陷的檢出率較高，而體積型缺陷的檢出率較低。

2.適宜檢驗(yàn)厚度較大的工件，不適宜檢驗(yàn)較薄的工件。

3.應(yīng)用范圍廣，可用于各種試件。

4.檢測(cè)成本低、速度快，儀器體積小、重量輕，現(xiàn)場(chǎng)使用較方便

5.對(duì)缺陷在工件厚度方向上的定位較準(zhǔn)確。

局限性：1.無(wú)法得到缺陷直觀圖像，定性困難，定量精度不高。

2.檢測(cè)結(jié)果無(wú)直接見(jiàn)證記錄。

3.材質(zhì)、晶粒度對(duì)檢測(cè)有影響。

4.工件不規(guī)則的外形和一些結(jié)構(gòu)會(huì)影響檢測(cè)。

5.探頭掃查面的平整度和粗糙度對(duì)超聲檢測(cè)有一定影響。

無(wú)損檢測(cè)已不再是僅僅使用X 射線，包括聲、電、磁、電磁波、中子、激光等各種物理現(xiàn)象幾乎都被用做于了無(wú)損檢測(cè)，譬如：超聲檢測(cè)、渦流檢測(cè)、磁粉檢測(cè)、射線檢測(cè)、滲透檢測(cè)、目視檢測(cè)、紅外檢測(cè)、微波檢測(cè)、泄漏檢測(cè)、聲發(fā)射檢測(cè)、漏磁檢測(cè)、磁記憶檢測(cè)、熱中子照相檢測(cè)、激光散斑成像檢測(cè)、光纖光柵傳感技術(shù)，等等，而且還在不斷地開(kāi)發(fā)和應(yīng)用新的方法和技術(shù)。滲透檢測(cè)是基于液體的毛細(xì)作用（或毛細(xì)現(xiàn)象）和固體染料在一定條件下的發(fā)光現(xiàn)象。

　　一些看上去非常傳統(tǒng)的無(wú)損檢測(cè)方法，實(shí)際上也已經(jīng)發(fā)展出了許多新技術(shù)，譬如：

　　射線檢測(cè)——傳統(tǒng)技術(shù)是：膠片射線照相（X 射線和伽馬射線）。新技術(shù)有：高能X射線照相、數(shù)字射線成像（DR）、計(jì)算機(jī)射線照相（CR，類(lèi)似于數(shù)碼照相）、計(jì)算機(jī)層析成像（CT）、射線衍射等等。

　　超聲檢測(cè)——傳統(tǒng)技術(shù)是：A 型超聲（A 掃描超聲，A 超）。新技術(shù)有：B 掃描超聲、C 掃描超聲（C 超）、超聲衍射（TOFD）、相控陣超聲、共振超聲、電磁超聲、超聲導(dǎo)波等等。