輸入輸出（I/O）模塊的選取

輸出模塊分為晶體管、雙向可控硅、接點(diǎn)型。晶體管型的開關(guān)速度快（一般0.2ms），但負(fù)載能力，約0.2~0.3A、24VDC，適用于快速開關(guān)、 信號(hào)聯(lián)系的設(shè)備，一般與變頻、直流裝置等信號(hào)連接，應(yīng)注意晶體管漏電流對(duì)負(fù)載的影響。

可控硅型優(yōu)點(diǎn)是無觸點(diǎn)、具有交流負(fù)載特性，負(fù)載能力不大。

繼電器輸出具有交直流負(fù)載特點(diǎn)，負(fù)載能力大。常規(guī)控制中一般宜首先選用繼電器觸點(diǎn)型輸出，缺點(diǎn)是開關(guān)速度慢，一般在10ms左右，不適于高頻開關(guān)應(yīng)用。

PLC輸出設(shè)備的檢查及處理

首先將執(zhí)行機(jī)構(gòu)切至“硬操”控制狀態(tài)，手動(dòng)操作，觀察執(zhí)行機(jī)構(gòu)能否正確動(dòng)作。如果“硬操”不正常，應(yīng)檢査執(zhí)行機(jī)構(gòu)電氣控制部分是否正常，執(zhí)行機(jī)構(gòu)是否卡滯，電動(dòng)機(jī)、繼電器、電磁閥、電動(dòng)調(diào)節(jié)閥動(dòng)作是否靈活?！坝膊佟闭＃偾兄痢败洸佟?，用輸入信號(hào)操作來判斷故障的部位。檢査故障時(shí)除考慮器件本身的因素，還應(yīng)檢查故障是否由外部原因造成，負(fù)載過大，機(jī)械卡滯出現(xiàn)的過流對(duì)電氣觸點(diǎn)的影響或損壞。

由于使用環(huán)境惡劣，高溫、導(dǎo)電粉塵引起的短路、潮濕引起的絕緣降低或擊穿等突發(fā)故障（嚴(yán)重時(shí)，會(huì)出現(xiàn)打火、等異常現(xiàn)象）。這類故障發(fā)生后，一般會(huì)使變頻器無任何顯示，其處理方法是先對(duì)變頻器解體檢查，重點(diǎn)查找損壞件，根據(jù)故障發(fā)生區(qū)，進(jìn)行清理、測(cè)量、更換，然后測(cè)試，再恢復(fù)系統(tǒng)，空載試運(yùn)行，觀察觸發(fā)回路輸出側(cè)的波形，當(dāng)6組波形大小、相位差相等后，再加載運(yùn)行，達(dá)到解決故障的目的。

來自信號(hào)線引入的干擾

與PLC控制系統(tǒng)連接的各類信號(hào)傳輸線，除了傳輸有效的各類信號(hào)之外，總會(huì)有外部干擾信號(hào)侵入。此干擾主要有兩種途徑：一是通過變送器或共用信號(hào)儀表的供電電源串入的電網(wǎng)干擾，這往往被忽略；二是信號(hào)線受空間電磁輻射感應(yīng)的干擾，即信號(hào)線上的外部感應(yīng)干擾，這是很嚴(yán)重的。由信號(hào)引入干擾會(huì)引起I/O信號(hào)工作異常和測(cè)量精度大大降低，嚴(yán)重時(shí)將引起元器件損傷。對(duì)于隔離性能差的系統(tǒng)，還將導(dǎo)致信號(hào)間互相干擾，引起共地系統(tǒng)總線回流，造成邏輯數(shù)據(jù)變化、誤動(dòng)和死機(jī)。PLC控制系統(tǒng)因信號(hào)引入干擾造成I/O模件損壞數(shù)相當(dāng)嚴(yán)重，由此引起系統(tǒng)故障的情況也很多。