一六儀器 專業(yè)測厚儀 多道脈沖分析采集,先進(jìn)EFP算法  X射線熒光鍍層測厚儀

應(yīng)用于電子元器件,LED和照明,家用電器,通訊,汽車電子領(lǐng)域.EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題

 在我們的售前服務(wù)工作中，客戶通常都會拿一些在其它機(jī)構(gòu)或者儀器測量過的樣品來與我們儀器進(jìn)行測試結(jié)果對比，在確認(rèn)雙方儀器都是正常的情況下，會存在或多或少的差異，那么我們務(wù)必要把這個差異的來源分析給客戶，我們在分析之前首先要給客戶解說測試的基本原理，告知此儀器為對比分析測試儀器，然后再談?wù)`差來源，主要來源：

  1、標(biāo)樣：對比分析儀器是要求有越接近于需測試樣品的標(biāo)樣，測試結(jié)果越接近實(shí)際厚度。確認(rèn)雙方有沒有在標(biāo)定和校正時使用標(biāo)樣？使用的是多少厚度的標(biāo)樣？

2、樣品材料的詳細(xì)信息：如Ni/Cu的樣品，如果一家是按化學(xué)Ni測試，一家是按純Ni測試；Au/Ni/Cu/PCB樣品，一款儀器受Br干擾，一款儀器排除了Br干擾。

   3、測量位置、面積：確定在同一樣品上測試的是否同一位置，因?yàn)闃悠吩陔婂儠r因電位差不同，各部位厚度是有差異的；確認(rèn)兩款儀器測量面積的大小有多少差異。

4、樣品形狀：測量的樣品是否是兩款儀器都可測量，或者放置位置是否合適，如突出面有無擋住設(shè)備接收。

江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的高新技術(shù)企業(yè)。 

能量色散X射線熒光光譜儀廣泛應(yīng)用于電子元器件、LED和照明、家用電器、通訊、汽車電子等制造領(lǐng)域。   

光譜分析儀可以說是檢測儀器中的“超能先生”，在生物、能源環(huán)境、食品安全等領(lǐng)域都能看到它的身影。以食品檢測為例，常買糧食的朋友應(yīng)該都知道，零食的包裝上有一個營養(yǎng)成分表，用來向消費(fèi)者展示食品中的熱量、脂肪、蛋白質(zhì)、碳水化合物、鈉等主要營養(yǎng)成分的含量，而這些數(shù)據(jù)的獲得就離不開光譜分析儀。儀器通過對物品材料發(fā)散近紅外線，活躍材料中的分子，通過分子振動反射的光纖，根據(jù)光線的獨(dú)特光學(xué)特征識別，由此確認(rèn)材料的化學(xué)成分組成。因此，X射線熒光的能量或波長是特征性的，與元素有一一對應(yīng)的關(guān)系。

　　我們身邊的儀器遠(yuǎn)不止此，或許正如動畫中超人也有自己辦不到的事，科學(xué)儀器功能也有限，但相對的，儀器都有各自發(fā)光發(fā)熱的領(lǐng)域。不同的儀器在不同的領(lǐng)域各司其職，守護(hù)人類健康，為人類發(fā)展出力。

工業(yè)時代的科技是現(xiàn)代科技，科技是國之利器，國家要強(qiáng)大、人民生活要不斷改善，必須依托于強(qiáng)大科技?？茖W(xué)儀器在我國科技發(fā)展中起到的重要作用是不容忽視的，希望未來能夠看到更多拔萃的科學(xué)儀器為我國科技發(fā)展做出貢獻(xiàn)。

江蘇一六儀器   X熒光鍍層測厚儀  一六儀器、一liu品質(zhì)!各種涂鍍層、膜層的檢測難題歡迎咨詢聯(lián)系！

1X射線激發(fā)系統(tǒng)垂直上照式X射線光學(xué)系統(tǒng)空冷式微聚焦型X射線管，Be窗標(biāo)準(zhǔn)靶材:Rh靶;任選靶材:W、Mo、Ag等功率:50W(4-50kV，0-1.0mA)-標(biāo)準(zhǔn)75W(4-50kV，0-1.5mA)-任選X射線管功率可編程控制裝備有安全防射線光閘

2濾光片程控交換系統(tǒng)根據(jù)靶材，標(biāo)準(zhǔn)裝備有相應(yīng)的一次X射線濾光片系統(tǒng)二次X射線濾光片:3個位置程控交換，Co、Ni、Fe、V等多種材質(zhì)、多種厚度的二次濾光片任選位置傳感器保護(hù)裝置，防止樣品碰創(chuàng)探測器窗口

3準(zhǔn)直器程控交換系統(tǒng)多可同時裝配6種規(guī)格的準(zhǔn)直器，程序交換控制多種規(guī)格尺寸準(zhǔn)直器任選:-圓形，如4、6、8、12、20mil等-矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等

4測量斑點(diǎn)尺寸在12.7mm聚焦距離時，測量斑點(diǎn)尺寸小至為:0.078x0.055mm(使用0.025x0.05mm準(zhǔn)直器)在12.7mm聚焦距離時，測量斑點(diǎn)尺寸大至為:0.38x0.42mm(使用0.3mm準(zhǔn)直器)

5X射線探測系統(tǒng)封氣正比計數(shù)器裝備有峰漂移自動校正功能的高速信號處理電路

6樣品室CMI900CMI950-樣品室結(jié)構(gòu)開槽式樣品室開閉式樣品室-樣品臺尺寸610mmx610mm300mmx300mm-XY軸程控移動范圍標(biāo)準(zhǔn):152.4x177.8mm任選:50.8mmx152.4mm50.4mmx177.8mm101.6x177.8mm177.8x177.8mm610mmx610mm300mmx300mm-Z軸程控移動高度43.18mmXYZ程控時，152.4mmXY軸手動時，269.2mm-XYZ三軸控制方式多種控制方式任選:XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制

江蘇一六儀器   X熒光光譜測厚儀 特點(diǎn)

快速：1分鐘就可以測定樣品鍍層的厚度，并達(dá)到測量精度要求。

方便：X熒光光譜儀部分機(jī)型采用進(jìn)口國際上先進(jìn)的電制冷半導(dǎo)體探測器，能量分辨率更優(yōu)于135eV，測試精度更高。并且不用液氮制冷，不用定期補(bǔ)充液氮，操作使用更加方便，并且運(yùn)行成本比同類的其他產(chǎn)品更低。

無損：測試前后，樣品無任何形式的變化。

直觀：實(shí)時譜圖，可直觀顯示元素含量。

測試范圍廣：X熒光光譜儀，是一種物理分析方法，其分析與樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無關(guān)。對在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析,抽真空可以測試從Na到U。

可靠性高：由于測試過程無人為干擾因素，儀器自身分析精度、重復(fù)性與穩(wěn)定性很高。所以，其測量的可靠性更高。

滿足不同需求：測試軟件為WINDOWS操作系統(tǒng)軟件，操作方便、功能強(qiáng)大，軟件可監(jiān)控儀器狀態(tài)，設(shè)定儀器參數(shù)，并就有多種先進(jìn)的分析方法，工作曲線制作方法靈活多樣，方便滿足不同客戶不同樣品的測試需要。

性價比高：相比化學(xué)分析類儀器，X熒光光譜儀在總體使用成本上有優(yōu)勢的，可以讓更多的企業(yè)和廠家接受。

簡易：對人員技術(shù)要求較低，操作簡單方便,并且維護(hù)簡單方便。