γ計(jì)數(shù)器的原理

γ計(jì)數(shù)器，是一種用于探測電離輻射的粒子探測器，通常用于探測α粒子和β粒子，也有些型號蓋革計(jì)數(shù)器可以探測γ射線及X射線。

γ計(jì)數(shù)器是根據(jù)射線對氣體的電離性質(zhì)設(shè)計(jì)成的。其探測器（稱“蓋革管”）的通常結(jié)構(gòu)是在一根兩端用絕緣物質(zhì)密閉的金屬管內(nèi)充入稀薄氣體（通常是摻加了鹵素的稀有氣體，如氦等），在沿管的軸線上安裝有一根金屬絲電極，并在金屬管壁和金屬絲電極之間加上略低于管內(nèi)氣體擊穿電壓的電壓。

γ計(jì)數(shù)器原理介紹

在通常狀態(tài)下，管內(nèi)氣體不放電；而當(dāng)有高速粒子射入管內(nèi)時(shí)，粒子的能量使管內(nèi)氣體電離導(dǎo)電，在絲極與管壁之間產(chǎn)生迅速的氣體放電現(xiàn)象，從而輸出一個(gè)脈沖電流信號。通過適當(dāng)?shù)剡x擇加在絲極與管壁之間的電壓，就可以對被探測粒子低的能量，從而對其種類加以甄選。蓋革計(jì)數(shù)器也可以用于探測γ射線。

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γ計(jì)數(shù)器的功能

γ計(jì)數(shù)器是一種使用異常方便、操作簡單的計(jì)數(shù)儀，采用大屏幕觸摸顯示屏。具有多道分析和光子能量譜圖及同位素識別與分析功能。

1、測量標(biāo)準(zhǔn)準(zhǔn)確，使用井型NaI晶體探頭能在活度水平極其低的情況下進(jìn)行測試；  

2、在不需要多種樣本變換的部門，還能當(dāng)成單井γ計(jì)數(shù)器使用；  

3、可以用dpm, nCi, cps, dps或kBq來顯示結(jié)果；  

4、能自動減去本底并且能自我檢查系統(tǒng)測試項(xiàng)目；  

5、外部有一個(gè)鉛防護(hù)板（1.3cm厚），并且還有一個(gè)輔助的防護(hù)板可以替換。  

γ計(jì)數(shù)器的性能

CAPRAC-t型擦拭測試計(jì)數(shù)儀/井型NaI咖瑪計(jì)數(shù)儀性能：

1、可打印測試報(bào)告和光子能量直方圖；

2、計(jì)算通道含有511Kev探測功能；

3、通過γ能譜鑒別同位素；

4、為不同區(qū)域（熱實(shí)驗(yàn)室、病房、等）接收和儲存單個(gè)的觸發(fā)水平；

5、增加的觸發(fā)水平計(jì)數(shù)用紅色墨打印。

6、6秒內(nèi)進(jìn)行擦拭測試。

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