老化過(guò)程的類型

標(biāo)準(zhǔn)的老化測(cè)試系統(tǒng)包含一系列插座，這些插座橋接了老化板和被測(cè)試設(shè)備之間的臨時(shí)電氣連接。典型的老化板可能包括多達(dá)五十個(gè)插槽，并且老化系統(tǒng)可能包含數(shù)十個(gè)此類板。有效的老化系統(tǒng)性能取決于對(duì)老化板，測(cè)試設(shè)備和老化爐中溫度分布的透徹了解。常見(jiàn)的老化測(cè)試系統(tǒng)包括：

·靜態(tài)老化：在這種類型的系統(tǒng)下，將測(cè)試設(shè)備安裝到老化板上的插座，然后將其放置在老化烤箱中，在該烤箱中以十二到二十四的時(shí)間間隔施加電源和高溫小時(shí)。

冷卻后，將電路板取出，并對(duì)設(shè)備進(jìn)行一系列功能測(cè)試。外部偏置或負(fù)載不會(huì)產(chǎn)生應(yīng)力，但是由于缺少電輸入，因此靜態(tài)老化方法對(duì)評(píng)估復(fù)雜器件的效果較差。

老化房可用于評(píng)估確定電工電子產(chǎn)品或材料在溫度循環(huán)變化和產(chǎn)品表面高溫老化的環(huán)境條件下的儲(chǔ)存適應(yīng)性和使用的儲(chǔ)存適應(yīng)性。通常，測(cè)試樣本分為需要通電的測(cè)試樣本和不需要通電的測(cè)試樣本。老化室一般適用于中型和大型樣品。用于高水分樣品的高溫老化或干燥。它可分為設(shè)備要求的低均勻性或準(zhǔn)確性、5-10度/分鐘的高溫上升速率、設(shè)備要求的高均勻性或準(zhǔn)確性以及1-3度/分鐘的高溫上升速率。老房子有高低之分。如果有購(gòu)買(mǎi)配額，可以使用配置稍低的普通智能數(shù)字顯示儀表。如果預(yù)留購(gòu)買(mǎi)量大，可以使用進(jìn)口溫控器或觸摸屏控制器。具有溫度測(cè)試范圍寬，操作方便，溫控靈敏度高，溫度均勻性好。

高溫老化房一般用于產(chǎn)品出廠前的老練篩選，挑除前期失效工件。多用于電工電子產(chǎn)品。

一、對(duì)應(yīng)的產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)

高溫試驗(yàn)箱現(xiàn)行執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)GB/T11158-2008《高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》

高溫老化房沒(méi)有的產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)，一般參照GB/T11158-2008《高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》執(zhí)行

二、指標(biāo)的異同

高溫試驗(yàn)箱

溫度波動(dòng)度：≤1℃

溫度梯度：≤2℃

溫度偏差：±2℃

高溫老化房

由于高溫老化房沒(méi)有產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)，且使用溫度不高，一般參照高溫試驗(yàn)箱指標(biāo)：

溫度均勻度：≤2℃(按GB/T11158-98的指標(biāo))

換氣量：可調(diào)

結(jié)構(gòu)

由于高溫試驗(yàn)箱溫場(chǎng)要求較高，一般采用層流設(shè)計(jì)。