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隨著行業(yè)技術(shù)的快速提升以及勞動(dòng)力成本的不斷提高,自動(dòng)化、智能化在電子生產(chǎn)領(lǐng)域起著至關(guān)重要的作用?;趯?duì)市場和客戶的深入了解,成功推出了PCBA板級(jí)組裝領(lǐng)域及半導(dǎo)體芯片級(jí)封裝領(lǐng)域的自動(dòng)光學(xué)檢查機(jī)(AOI),產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于智能終端、可穿戴設(shè)備、電信網(wǎng)絡(luò)、航空航天、汽車電子等各個(gè)領(lǐng)域,為客戶提供高檢出、低誤報(bào)、簡單易用、功能強(qiáng)大的視覺檢查系統(tǒng)。同時(shí),面對(duì)質(zhì)量方面的困難,大量允許的可能出現(xiàn)的情況也需要一個(gè)一致的,確實(shí)可行的說明。
為客戶提供專業(yè)、及時(shí)的技術(shù)服務(wù)。憑著優(yōu)的設(shè)備性能、完善的售后服務(wù),在智能制造、工業(yè)4.0的大潮中,明銳人將秉持“誠信為本、服務(wù)客戶、精益求精”的核心價(jià)值觀,以對(duì)“創(chuàng)新和品質(zhì)”的持續(xù)探求,成為業(yè)界的視覺檢查方案供應(yīng)商,用智慧與心血為世界重新定義“視覺與智能”的內(nèi)涵。但當(dāng)前這種方法還不足很成熟,其算法復(fù)雜,不能滿足實(shí)時(shí)檢測的要求,且自適應(yīng)性不夠,系統(tǒng)擴(kuò)展能力差。
AOI隨著行業(yè)技術(shù)的快速提升以及勞動(dòng)力成本的不斷提高,自動(dòng)化、智能化在電子生產(chǎn)領(lǐng)域起著至關(guān)重要的作用?;趯?duì)市場和客戶的深入了解,成功推出了PCBA板級(jí)組裝領(lǐng)域及半導(dǎo)體芯片級(jí)封裝領(lǐng)域的自動(dòng)光學(xué)檢查機(jī)(AOI)。
自動(dòng)光學(xué)檢測儀通過掃描電路板表面來實(shí)現(xiàn)其檢測過程。根據(jù)一臺(tái)或多臺(tái)高清攝像機(jī),該設(shè)備可借助多種光源(包括熒光燈、LED照明、紅外線或紫外線照明)捕獲電路板表面圖像。更多的AOI都具有很大的彈性度,安捷倫的SJ50與SP50(三維)焊膏檢測系統(tǒng)使用統(tǒng)一化平臺(tái),可以互換照明頭。然后,將捕獲的圖像和預(yù)先輸入計(jì)算機(jī)的電路板參數(shù)進(jìn)行比較,以便通過其內(nèi)置的處理軟件清楚地指示差異、異常甚至錯(cuò)誤,整個(gè)過程可以隨時(shí)進(jìn)行監(jiān)控。
AOI為客戶提供專業(yè)、及時(shí)、的技術(shù)服務(wù)。憑著的設(shè)備性能、完善的售后服務(wù),在智能制造、工業(yè)4.0的大潮中,明銳人將秉持“誠信為本、服務(wù)客戶、精益求精”的核心價(jià)值觀,以對(duì)“創(chuàng)新和品質(zhì)”的持續(xù)探求,成為業(yè)界的視覺檢查方案供應(yīng)商,用智慧與心血為世界重新定義“視覺與智能”的內(nèi)涵。近年來軟件方面,使用了很多電路板圖像的檢測算法,這些算法大致可分為三大類:有參考比較算法、無參考校驗(yàn)法以及混合型算法。
AOI檢測的優(yōu)點(diǎn)是節(jié)省人力,降低成本,提高生產(chǎn)效率, 統(tǒng)一檢測標(biāo)準(zhǔn)和排除人為因素干擾,保證了檢測結(jié)果的穩(wěn)定性,可重復(fù)性和準(zhǔn)確性,及時(shí)發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的不良,確保出貨質(zhì)量。
AOI為客戶提供專業(yè)、及時(shí)、的技術(shù)服務(wù)。憑著的設(shè)備性能、完善的售后服務(wù),在智能制造、工業(yè)4.0的大潮中,明銳人將秉持“誠信為本、服務(wù)客戶、精益求精”的核心價(jià)值觀,以對(duì)“創(chuàng)新和品質(zhì)”的持續(xù)探求,成為業(yè)界的視覺檢查方案供應(yīng)商,用智慧與心血為世界重新定義“視覺與智能”的內(nèi)涵。所有認(rèn)識(shí)到的和已知的缺陷都儲(chǔ)存起來,他們的類型和圖片可以用于AOI系統(tǒng)和全球數(shù)據(jù)庫里的檢查程序。
波長光源也就是一般現(xiàn)代工業(yè)AOI檢測設(shè)備中的紅綠藍(lán)LED光源。特殊波長光源一般是指紅外或紫外波長光源,一些特殊材料在可見光范圍內(nèi)吸收差別不大,灰階變化不明顯時(shí)可以考慮采用特殊波長光源,比如說利用紫外光能量高可以激發(fā)熒光材料的原理,檢測具有熒光發(fā)光特性物質(zhì)微殘留時(shí)紫外光源就是一種比較有效的手段,因材料成分與紅外光譜有對(duì)應(yīng)關(guān)系的原理,紅外光源對(duì)不具有發(fā)光性質(zhì)的有機(jī)化合物殘留缺陷檢出就有很大的作用,甚至可以實(shí)現(xiàn)成分分析。AOI元器件對(duì)一個(gè)穩(wěn)定的工藝過程來說,一個(gè)重要的因素是元器件,這不僅與PCB上直接的器件布局有關(guān),而且或多或少也與“工藝流程設(shè)計(jì)”有關(guān)。特殊光源中,利用偏振光與物體相互作用后偏振態(tài)的變化,利用光學(xué)干涉原理的白光干涉(white light interferometry)在特定缺陷檢測中的得到了應(yīng)用,例如通過相干光的干涉圖案計(jì)算出對(duì)應(yīng)的相位差和光程差,可以測量出被測物體與參考物體之間的差異,且分辨率與精度為可以達(dá)到亞波長,測量三維物體形貌與高度也正成為AOI檢測的新需求。