頭部集成了薄膜厚度測量所需功能

通過顯微光譜法測量高i精度絕i對反射率（多層膜厚度，光學常數(shù)）

1點1秒高速測量

顯微分光下廣范圍的光學系統(tǒng)（紫外至近紅外）

區(qū)域傳感器的安全機制

易于分析向?qū)В鯇W者也能夠進行光學常數(shù)分析

獨立測量頭對應各種inline客制化需求

支持各種自定義

測量項目：

絕i對反射率測量

多層膜解析

光學常數(shù)分析（n：折射率，k：消光系數(shù)）

大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

膜厚儀測試時有關(guān)輻射安全注意事項

幅射安全方面膜厚儀由于使用X射線管而產(chǎn)生輻射。測量頭的設計完全符合國際X射線安全要求：　　·測量頭控制臺上的一個鑰匙開關(guān)通過打開或關(guān)閉X射線管上的高壓決定X幅射的產(chǎn)生與否；　　·一個多級故障自動保險互鎖系統(tǒng)可控制X幅射的產(chǎn)生，從而有效保護操作者的安全；　　·如果測量門沒有完全關(guān)閉，X幅射就不會進入測量室；　　·足夠的遮罩用來減小外部的幅射量。

膜厚儀如何系統(tǒng)校準?

校準的方法、種類，這是新用戶經(jīng)常會遇到的問題。系統(tǒng)校準、零點校準還有兩點校準其實都已經(jīng)在說明書上寫到了，用戶只需仔細閱讀就可以了。需要注意的是：在校準鐵基時1好是多測量幾次以防止錯誤操作;系統(tǒng)校準的樣片要按照從小到大的順序進行。如果個別標準片丟失可以找與其數(shù)值相近的樣片代替。