使用ICP光譜儀環(huán)境很重要

如果室內(nèi)濕度過大，ICP光譜分析儀中的光學元件、光電元件、電子元件等受到潮濕后，易發(fā)生銹蝕、霉變等現(xiàn)象導(dǎo)致儀器接觸不良、性能下降，甚至報廢。潮濕的環(huán)境還容易使儀器的絕緣性能變差，產(chǎn)生不安全的因素。以上就是給ICP光譜儀防塵介紹，如果您還有關(guān)于光譜儀的問題，歡迎咨詢小編。例如在ICP光譜分析儀光學系統(tǒng)里光柵因濕度過大容易受潮發(fā)毛燒壞出現(xiàn)電容打火、高頻發(fā)生器使等離子體不容易點燃等現(xiàn)象，嚴重時還會發(fā)生高壓電源和高壓電路放毀元件導(dǎo)致高頻發(fā)生器損害，如功率管被擊穿，輸出電路阻抗匹配、網(wǎng)絡(luò)中的可變電容放電等。

ICP光譜儀的校正方法

分析校正

分析校正是為了讓所測元素濃度與儀器所檢測到的光強度建立起聯(lián)系，就是我們常說的做標準曲線，輸^事先配好的標樣值，再讓儀器對其進行檢測，讓檢測值與濃度之間建立起關(guān)系曲線，未知樣品濃度按照該曲線及所；剛得濃度值得出。在ICP—OES的分馓正中，檢測值與濃度之間—般是線性關(guān)系。在我國國內(nèi)一般實驗室都不具備過濾塵埃、防塵的設(shè)施，因此光譜儀需要進行防塵處理。

在實際工作中，存在其他元素峰對所測元素峰有干擾的情況時，可以通過調(diào)節(jié)計算方法及火焰觀測方式來減小誤差，提高線性相關(guān)系數(shù)。這里需要說明線性相關(guān)系數(shù)是準確度的必要不充分條件

ICP光譜法的優(yōu)點

1. 因為ICP光源具有良好的原子化、激發(fā)和電離能力，所以它具有很好的檢出限。對于多數(shù)元素，其檢出限一般為0.1～100ng/ml。

2. 因為ICP光源具有良好的穩(wěn)定性，所以它具有很好的精密度，當分析物含量不是很低即明顯高于檢出限時，其RSD一般可在1%以下，好時可在0.5%以下。

3. 因為ICP發(fā)射光譜法受樣品基體的影響很小，所以參比樣品無須進行嚴格的基體匹配，同時在一般情況下亦可不用內(nèi)標，也不必采用添加劑，因此它具有良好的準確度。這是ICP光譜法的優(yōu)點之一。

1. ICP發(fā)射光譜法的分析校正曲線具有很寬的線性范圍，在一般場合為5個數(shù)量級，好時可達6個數(shù)量級。

2. ICP發(fā)射光譜法具有同時或順序多元素測定能力，特別是固體成像檢測器的開發(fā)和使用及全譜直讀光譜儀的商品化更增強了它的多元素同時分析的能力。

3. 由于ICP發(fā)射光譜法在一般情況下無須進行基體匹配且分析校正曲線具有很寬的線性范圍，所以它操作簡便易于掌握，特別是對于液體樣品的分析。