ICP光譜儀原理是什么？

ICP光譜儀又稱分析儀，廣泛為認知的為直讀ICP光譜儀。以光電倍增管等光探測器測量譜線不同波長位置強度的裝置。它由一個入射狹縫，散系統(tǒng)，一個成像系統(tǒng)和一個或多個出射狹縫組成。如果想提前安裝，可以詢問廠家，一般廠家都會提供一個詳細的安裝圖紙，可以按圖紙安裝。以色散元件將輻射源的電磁輻射分離出所需要的波長或波長區(qū)域，并在選定的波長上(或掃描某一波段)進行強度測定。分為單色儀和多色儀兩種。

ICP光譜儀的工作原理：

根據現(xiàn)代ICP光譜儀器的工作原理，ICP光譜儀可以分為兩大類：經典ICP光譜儀和新型ICP光譜儀。經典ICP光譜儀器是建立在空間色散原理上的儀器;新型ICP光譜儀器是建立在調制原理上的儀器。經典ICP光譜儀器都是狹縫ICP光譜儀器。聚焦元件:聚焦色散后的光束，使其在焦平面上形成一系列入射狹縫的像，其中每一像點對應于一特定波長。調制ICP光譜儀是非空間分析的，它采用圓孔進光。根據色散組件的分析原理，ICP光譜儀器可分為：棱鏡ICP光譜儀，衍射光柵ICP光譜儀和干涉ICP光譜儀。

光學多道分析儀OMA是近十幾年出現(xiàn)的采用光子探測器(CCD)和計算機控制的新型光譜分析儀器，它集信息采集，處理，存儲諸功能于一體。

由于OMA不再使用感光乳膠，避免和省去了暗室處理以及之后的一系列繁瑣處理，測量工作，使傳統(tǒng)的光譜技術發(fā)生了根本的改變，大大改善了工作條件，提高了工作效率;使用OMA分析光譜，測量準確迅速，方便，且靈敏度高，響應時間快，光譜分辨率高，測量結果可立即從顯示屏上讀出或由打印機，繪圖儀輸出。它己被廣泛使用于幾乎所有的光譜測量，分析及研究工作中，特別適應于對微弱信號，瞬變信號的檢測。ICP光譜儀的作用雖然儀器的靈敏度在一定范圍內波動，但仍有一合理的波動范圍，如信號強度或測量RSD異常應注意檢查。

ICP光譜儀光學系統(tǒng)的知識

1.分辯率

光譜儀的分辯率決定了儀器分辯復雜譜線的能力。高分辨率減少了建立分析方法所需的時間，有較好的檢出限和較高的準確度。ARCOS 的實際分辯率為：Fe(310.030)<0.007nm。采用3600刻線/mm光柵的光譜范圍為190nm—520nm，可以適用于大部分的光譜分析元素。(2)ICP光譜儀的供電，保證儀器運行時，不會因為線路的電壓降過大，造成儀器損壞，影響儀器壽命。

2.光柵直接驅動

ARCOS型光譜儀采用直接驅動光柵的機械傳動方式，計算機控制下的自動波長參比保證波長的機械準確度總是優(yōu)于0.003nm。由于的重現(xiàn)性,掃描速度很快,全譜范圍掃描小于8秒.光柵轉動的高速度使得儀器在1分鐘內可以分析15個元素,這意味著節(jié)省氣和樣品,分析速度快, 穩(wěn)定性較高。1、確定儀器要安裝的房間，ICP光譜儀是大型精密儀器，尤其是進口儀器，對使用環(huán)境的條件要求比較高。

ICP光譜儀的校正

光學系統(tǒng)校正

在PROFILE儀器中，操作軟件自動控制儀器每30分鐘快速校正、每2小時完全校正光學系統(tǒng)。如果實驗室環(huán)境溫度變化較大，不能保證工作條件，可能造成測量結果數據漂移。

光學系統(tǒng)校正使用燈，選擇Hg8線（波長253.652nm），儀器內部裝有燈，只要按照操作規(guī)程操作即可。

等離子體位置校正

等離子體位置校正的目的是將光源對準光學系統(tǒng)。通常在重新裝配進樣系統(tǒng)后，點燃等離子體，用Mn溶液（10ug/mL）校正。

在等離子體位置校正過程中，值得注意的是：確保選中Mn 257.610波長、Mn溶液能夠正常進入并形成氣溶膠進入等離子體。如果上述條件沒有滿足，可能造成校正失敗。