美國(guó)SciAps Inc.(賽普司)始于1998年，總部位于美國(guó)波士頓，是較早專(zhuān)注于便捷式元素分析光譜研發(fā)的高新技術(shù)企業(yè)。是聯(lián)合國(guó)核查組織認(rèn)可的技術(shù)享有者之一，經(jīng)過(guò)二十年的積累，已成為從事全產(chǎn)品線手特光譜分析設(shè)備的研究機(jī)構(gòu)。

◆分析其它手持設(shè)備不能檢測(cè)的金屬(Li、Be、B. Na)和非金屬元素,例如識(shí)別鈹銅合金,鋁鈦硼合金,鋰鋁合號(hào)。

◆因LIBS 檢測(cè)斑點(diǎn)很小,為超小超薄材料、鍍層、焊縫成份的檢測(cè)提供了快速的檢測(cè)手段。

天津市聯(lián)創(chuàng)蔚萊科技發(fā)展有限公司，坐落于陳塘國(guó)家自主創(chuàng)新示范區(qū)。以南京理工大學(xué)北方研究院為載體，立足天津，輻射周邊，通過(guò)創(chuàng)新的合作共贏模式，匯聚了國(guó)內(nèi)外理化儀器的生產(chǎn)企業(yè)。

文務(wù)地理源確認(rèn)

◆文務(wù)的化學(xué)成份和地質(zhì)特征與其礦料地理源密切相關(guān)。

◆樣品群中當(dāng)各個(gè)樣品的有關(guān)元素含量集中在-狹窄的范圍內(nèi)，則表明它們來(lái)自有限的地理源。

◆建立相當(dāng)規(guī)模的數(shù)據(jù)庫(kù),將待分析文務(wù)樣品群的測(cè)試值與之比較,是系統(tǒng)研究文務(wù)產(chǎn)地的前提。

X - 50不能測(cè)量Mg,Al或Si，在某些材料中可以測(cè)量P和S。

X - 50配有與其他X型號(hào)相同的較X管(電壓da40 kV)、集成攝像頭、視頻和Android操作系統(tǒng)平臺(tái)。

3、校正方法：分析儀采用基本參數(shù)法（fundamental parameters）、康普頓標(biāo)準(zhǔn)化法（Compton Normalization）及經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法（empirical calibration）校正。Na)和非金屬元素,例如識(shí)別鈹銅合金,鋁鈦硼合金,鋰鋁合金牌號(hào)。符合美國(guó)EPA Method 6200使用規(guī)范要求。

4、元素分析含量范圍：PPM到99.99％。

5、激發(fā)源：大功率微型直板電子X(jué)射線管，內(nèi)置10kV~40kV多段可選擇的電壓。射線管靶材：Au/Rh靶。