大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評價(jià)?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機(jī)EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評價(jià)?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

應(yīng)用范圍■光學(xué)薄膜

?相位差膜、橢圓膜、相位差板

?偏光膜、附加功能偏光膜、偏光板、其它光學(xué)材料

■液晶層

?穿透、半穿透型液晶層(TFT、TN、STN、IPS 、VA、OCB、強(qiáng)誘電性液晶)

?反射型液晶層(TN,STN)

本設(shè)備是利用瞬間多通道測光光譜儀以及偏光光學(xué)系高速測量透過型封入完成后的LCD Cell（TN,IPS,MVA）的Gap以及Pre-tilt角。

本設(shè)備是利用瞬間多通道測光檢出器和自動(dòng)大型Ｘ－Ｙ平臺(tái)以及偏光光學(xué)系，測定透過型液晶面板面內(nèi)的cellgap和預(yù)斜角（含ＭＶＡ）的系統(tǒng)。通過多折射位相差（RE.）來計(jì)算液晶封入后的液晶基板的cellgap值，測定精度高。

本設(shè)備是利用瞬間多通道測光檢出器和自動(dòng)大型Ｘ－Ｙ平臺(tái)以及偏光光學(xué)系，測定透過型液晶面板面內(nèi)的cellgap和預(yù)斜角（含ＭＶＡ）的系統(tǒng)。

  本Software自動(dòng)制御偏光Prism unit和MCPD，測量LCD Cell Gap以及Pre-tilt角的測量。每個(gè)Sample品種，會(huì)準(zhǔn)備Recipe（測量條件File）所以O(shè)perator 放置Sample后，選擇Recipe，即可實(shí)現(xiàn)測量。

偏光計(jì)測模組是用CCD camera的1shot來獲取多角度的偏光強(qiáng)度pattern，因與以往的偏光計(jì)測裝置相比，其無偏光子回旋機(jī)構(gòu)，故其可維持其的測定及穩(wěn)定的性能。

設(shè)置場所    ?。骸∥輧?nèi)設(shè)置（避免太陽直射）

   周圍溫度    ：２０～３5℃ 不存在溫度急劇變化的場合

   相對濕度    ：３０～８０％

   周圍環(huán)境    ： 濕氣、灰塵少、無腐蝕性氣體、換氣良好

   電壓　    ：　AC110V±10V（單相）

             ：沒有急劇的負(fù)載變化 。  

             ：附近沒有顯著噪聲源。接地應(yīng)該是接地電阻１００Ω以下。