在線氣體分析儀在工業(yè)流程中的應用

氣體成分分析的特點及要解決的問題，在工業(yè)中重要也是用得多的是氣體成分的分析測量。根據氣體成分分析儀工作原理的不同，大致可分為兩種測量方式：一是直接測量方式，即將探頭安裝在過程氣體管道中直接測量(測量、變送裝置在探頭內)，如紅外線、紫外線和激光氣體分析器等；一是間接(取樣)測量方式，即將過程氣體抽出進行除塵等處理后送至分析進行測量(測量、變送裝置在內)。對于采用間接分析測量的來說，由于受工業(yè)過程氣體高溫、高粉塵、高水份、負壓及腐蝕性等惡劣氣體條件影響，面對的大困難就是怎樣獲得適合測試條件的樣氣。惟一的方法就是采用預處理裝置對樣氣進行處理。由于一些進口的分析儀本身技術的發(fā)展已比較成熟，可以滿足工業(yè)分析的需要。因此，選用(制作)能適應工藝條件的、性能穩(wěn)定可靠的預處理裝置是解決分析使用問題的關鍵。對于采用直接分析測量的來說，由于它采用了新光學技術，能在不影響被測氣體本身狀態(tài)的情況下進行測量，具有測量準確、反應迅速的優(yōu)點。尤其是它不需預處理裝置，省去了在自動吹掃裝置上的投資，與傳統(tǒng)的熱導式氣體分析儀相比有很大的優(yōu)勢。

紅外線氣體分析儀的作用 

紅外線氣體分析儀,是利用紅外線進行的氣體分析。它基于待分析組分的濃度不同，吸收的輻射能不同.剩下的輻射能使得檢測器里的溫度升高不同，動片薄膜兩邊所受的壓力不同，從而產生一個電容檢測器的電信號。這樣，就可間接測量出待分析組分的濃度。

紅外線氣體分析儀是根據比爾定律制成的。假定被測氣體為一個無限薄的平面.強度為k的紅外線垂直穿透它，則能量衰減的量為:I=I0e-KCL(比爾定律)式中:I--被介質吸收的輻射強度;I0--紅外線通過介質前的輻射度;K--待分析組分對輻射波段的吸收系數;C--待分析組分的氣體濃度;L--氣室長度(赦測氣體層的厚度)對于一臺制造好了的紅外線氣體分析儀，其測量組分已定，即待分析組分對輻射波段的吸收系數k一定;紅外光源已定，即紅外線通過介質前的輻射強度I0一定;氣室長度L一定。從比爾定律可以看出:通過測量輻射能量的衰減I，就可確定待分析組分的濃度C了。

紅外線氣體分析儀的測量誤差分析

所謂干擾組分就是指與待測組分特征吸收波帶有交叉或重疊的其他組分。為了消除干擾組分的干擾，準確檢測待測組分的濃度，可采取多種措施，如設置濾波氣 室、或干涉濾光片，使這些干擾組分特征吸收波帶的光在進入測量氣室或檢測器之前就被吸收掉，只讓待測組分特征吸收波帶的光通過。

水分干擾：水分廣泛存在于工藝氣體中，生產狀態(tài)的變化，預處理運行的變化，環(huán)境溫度、壓力的變化，都會使進入分析儀中的氣樣的含水量發(fā)生變化。水分在 1~9μm波長范圍內幾乎有連續(xù)的吸收帶，其吸收帶和許多組分特征吸收波帶重疊在一起。當兩者的吸收波帶重疊時，即使采取前述措施，也難以消除水分干擾帶 來的測量誤差。因為這些措施對水分和被測組分的作用是完全相同的，由于氣樣中水分的含量會隨時變化，所以很難估計其對測量誤差的影響。減少或降低水分對待 測組分的干擾，目前的有效辦法是在預處理系統(tǒng)中除水脫濕，降低氣樣的露點。常用的辦法是采用帶溫控系統(tǒng)的冷卻器降溫除水。

氣體分析儀為什么需要定期標定

1、設備的準確性是檢測環(huán)境中有毒有害氣體或可燃氣體濃度達到預設警報限制時發(fā)出警告的重要前提，準確及時的警報是確保人員安全和生產安全的保證。

2、分析儀準確度主要取決于傳感器，電化學傳感器和催化燃燒傳感器在使用過程中可能會被環(huán)境中的特定物質逐漸改變。因此，氣體檢測儀的定期校準是完全必要的。

3、目前，所有氣體分析儀尚未偏離相對測量方法。因此，儀器必須及時維護和校準，準確地校正制造商的要求才能確保儀器測試結果的準確性。

4、經常校準儀器測試結果，確保誤差不超過正常范圍也是必要的。像我們的手表一樣，我們也須定期和標準時間一起校準，以確保顯示時間的準確性。

所以定期校準裝置，減少裝置測試結果中的錯誤并提高準確性。因此，在使用任何類型的儀器之前，對設備的標準氣體進行響應測試，以確保設備實際起到保護作用。