ATE是Automatic Test Equipment的縮寫(xiě)，根據(jù)客戶的測(cè)試要求、圖紙及參考方案，采用MCU、PLC、PC基于VB、VC開(kāi)發(fā)平臺(tái)，利用TestStand&LabVIEW和JTAG/Boundary Scan等技術(shù)開(kāi)發(fā)、設(shè)計(jì)各類自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備。

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? 開(kāi)放式的硬件平臺(tái)，可根據(jù)客戶需求增減各種測(cè)試設(shè)備 (含GPIB,RS-232,USB等接口的設(shè)備)

? ate電源測(cè)試系統(tǒng)支持同時(shí)測(cè)多顆單組/多顆多組輸出電源，大幅提升了產(chǎn)線產(chǎn)能

? 開(kāi)放式的軟件平臺(tái)，ate電源測(cè)試系統(tǒng)可根據(jù)客戶測(cè)試要求擴(kuò)充各種新測(cè)試項(xiàng)目和功能

? ate電源測(cè)試系統(tǒng)支持同時(shí)多路條形碼預(yù)掃描功能，并且支持邊測(cè)試邊掃條形碼功能，提升整體測(cè)試速度

ATE自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的特點(diǎn)　

　1、開(kāi)放性

　　ATE自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)支持目前流行的所有儀器控制總線PXI、VXI、Serial、FPIB，用戶可根據(jù)不同的測(cè)試需求構(gòu)造任意規(guī)模的系統(tǒng)，小至二，三個(gè)儀器的微型系統(tǒng)，大至二，三十個(gè)儀器的大型系統(tǒng)，同時(shí)支持對(duì)用戶根據(jù)測(cè)試需求開(kāi)發(fā)的工裝件進(jìn)行集成，進(jìn)一步提升自動(dòng)化測(cè)試水平。

　　2、通用性

　　ATE自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)可使用同一個(gè)系統(tǒng)對(duì)不同類型的電子設(shè)備進(jìn)行測(cè)試。

　　3、易用性

　　ATE自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的友好的用戶界面使無(wú)論是測(cè)試，系統(tǒng)集成或是測(cè)試程序開(kāi)放都能輕松掌握。

　　4、模塊化

　　ATE自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)模塊化的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)使得系統(tǒng)實(shí)施可根據(jù)客戶應(yīng)用規(guī)模靈活進(jìn)行，支持網(wǎng)絡(luò)版和單機(jī)版，單機(jī)版和網(wǎng)絡(luò)版測(cè)試工位完全兼容，提高了ATE自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的升級(jí)能。