數(shù)字ic后端設(shè)計（二)

4.時鐘樹生成(CTS Clock tree synthesis) 。

芯片中的時鐘網(wǎng)絡(luò)要驅(qū)動電路中所有的時序單元，所以時鐘源端門單元帶載很多，其負載很大并且不平衡，需要插入緩沖器減小負載和平衡。時鐘網(wǎng)絡(luò)及其上的緩沖器構(gòu)成了時鐘樹。一般要反復(fù)幾次才可以做出一個比較理想的時鐘樹。---Clock skew.

5. STA 靜態(tài)時序分析和后。

時鐘樹插入后，每個單元的位置都確定下來了，工具可以提出GlobalRoute形式的連線寄生參數(shù)，此時對參數(shù)的提取就比較準確了。Hercules通過提供快的運行時間和高速有效的糾錯（debugging）來縮短IC設(shè)計的周期。SE把.V和.SDF文件傳遞給PrimeTime做靜態(tài)時序分析。確認沒有時序違規(guī)后，將這來兩個文件傳遞給前端人員做后。對Astro 而言，在detail routing 之后，

用starRC XT 參數(shù)提取，生成的E.V和.SDF文件傳遞給PrimeTime做靜態(tài)時序分析，那將會更準確。

6. ECO(Engineering Change Order)。

針對靜態(tài)時序分析和后中出現(xiàn)的問題，對電路和單元布局進行小范圍的改動.

7. Filler的插入(pad fliier, cell filler)。

Filler指的是標準單元庫和I/O Pad庫中定義的與邏輯無關(guān)的填充物，用來填充標準單元和標準單元之間，I/O Pad和I/O Pad之間的間隙，它主要是把擴散層連接起來，滿足DRC規(guī)則和設(shè)計需要。

8. 布線(Routing)。

Global route-- Track assign --Detail routing--Routing optimization布線是指在滿足工藝規(guī)則和布線層數(shù)限制、線寬、線間距限制和各線網(wǎng)可靠絕緣的電性能約束的條件下，根據(jù)電路的連接關(guān)系將各單元和I/OPad用互連線連接起來，這些是在時序驅(qū)動(Timing driven )的條件下進行的，保證關(guān)鍵時序路徑上的連線長度能夠。這個是數(shù)字電路基礎(chǔ)知識，一個寄存器出現(xiàn)這兩個時序違例時，是沒有辦法正確采樣數(shù)據(jù)和輸出數(shù)據(jù)的，所以以寄存器為基礎(chǔ)的數(shù)字芯片功能肯定會出現(xiàn)問題。--Timing report clear

數(shù)字IC應(yīng)用驗證方真技術(shù)研究

應(yīng)用驗證是指導IC元器件在系統(tǒng)中的可靠應(yīng)用的關(guān)鍵,重點要關(guān)注應(yīng)用系統(tǒng)對器件接口信號的影響,因此無論是采用純軟件還是軟硬件協(xié)同的方式進行應(yīng)用驗證都需要先完成應(yīng)用系統(tǒng)的PCB工作。罪魁禍首：SiOHSiOHMOSFET原理是一個門極(Gate)靠靜電勢控制底下的導電溝道深度，電勢高形成深溝道電流就大，電勢低溝道消失就不導電了。本文提出的應(yīng)用驗證技術(shù)方案以基IBIS模型在多個平臺進行PCB SI(Signal Integrity)的方式提取出所需的數(shù)據(jù),實現(xiàn)對系統(tǒng)應(yīng)用環(huán)境的模擬;在此基礎(chǔ)上通過軟件和軟硬件協(xié)同兩種方法來實現(xiàn)數(shù)字IC器件的應(yīng)用驗證。為保證應(yīng)用驗證的順利進行,對方案中涉及到的IBIS建模、PCB SI和S參數(shù)的提取及等技術(shù)進行了研究。

提出的應(yīng)用驗證技術(shù)方案的指導下,以SRAM的應(yīng)用驗證為例進行了相關(guān)的技術(shù)探索。首先對IBIS模型建模技術(shù)進行了深入研究,并完成了SRAM以及80C32等相關(guān)IC器件的IBIS模型建模工作;接著基于IBIS模型進行PCB SI,模擬了SRAM的板級應(yīng)用環(huán)境并提取了應(yīng)用驗證所需的數(shù)據(jù);后分別對適用于SRAM的軟件平臺和軟硬件協(xié)同平臺進行了相關(guān)設(shè)計,并完成了SRAM的應(yīng)用驗證。通過對SRAM的應(yīng)用驗證,證明了本文所提出的應(yīng)用驗證技術(shù)方案的可行性。在通訊與信息技術(shù)中，當把范圍局限到硅集成電路時，芯片和集成電路的交集就是在“硅晶片上的電路”上。

數(shù)字IC測試系統(tǒng)的發(fā)展

隨著數(shù)字集成電路性能的不斷提高,數(shù)字集成電路測試系統(tǒng)也相應(yīng)得到了迅速發(fā)展。主要表現(xiàn)在以下幾方面: 測試通道數(shù)增加數(shù)字電路集成度的不斷提高和專用集成電路的出現(xiàn),器件的引腳數(shù)不斷增加,使得數(shù)字測試系統(tǒng)的測試通道數(shù)相應(yīng)不斷增加。由測試中、小規(guī)模集成電路的24通道測試系統(tǒng),測試大規(guī)模集成電路的48通道、64通道測試系統(tǒng)發(fā)展到測試超大規(guī)模集成電路的128通道、256通道甚至更多通道數(shù)的測試系統(tǒng)。2、架構(gòu)設(shè)計與算法設(shè)計根據(jù)客戶提出的規(guī)格要求，對一些功能進行算法設(shè)計，拿出設(shè)計解決方案和具體實現(xiàn)架構(gòu)，劃分模塊功能。

深圳瑞泰威科技有限公司是國內(nèi)IC電子元器件的代理銷售企業(yè)，專業(yè)從事各類驅(qū)動IC、存儲IC、傳感器IC、觸摸IC銷售，品類齊全，具備上百個型號。與國內(nèi)外的東芝、恩智浦、安森美、全宇昕、上海晶準等均穩(wěn)定合作，保證產(chǎn)品的品質(zhì)和穩(wěn)定供貨。自公司成立以來，飛速發(fā)展，產(chǎn)品已涵蓋了工控類IC、光通信類IC、無線通信IC、消費類IC等行業(yè)。數(shù)字IC強調(diào)的是運算速度與成本比，數(shù)字IC設(shè)計的目標是在盡量低的成本下達到目標運算速度。