39.薄膜體積電阻率的測定

將數(shù)層 100mm×100mm試樣放在直徑80mm的下電極上 ,將電極與試樣之間的空氣排出 ,加上直徑(50± 0.5)mm,質(zhì)量為(100±20 )g的上電極 ,然后放好保護電極 ,其內(nèi)徑為  (70±0.5)mm,外 徑為(80±0.5)mm,質(zhì)量為(80±20)g。即完成測試準(zhǔn)備工作。AsTMD4635包括尺寸公差(厚度、寬度、長度和產(chǎn)率)、內(nèi)在質(zhì)量要求(密度、工藝、拉伸強度、熱穩(wěn)定性、氣味、沖擊強度、摩擦系數(shù)、光學(xué)性能和表面處理等)及其測試方法。測試時按高阻計操作程序進行操作 ,測定一分鐘充電后試樣的電阻值 ,然后測定三厚度由于材 料的結(jié)晶情況和薄膜的性能有關(guān) ,與薄膜的成型性有關(guān)。因此 ,在薄膜的加工過程往往需要及時檢測產(chǎn)品及半成品的結(jié)晶度。在一般情 況下 ,結(jié)晶聚合物不可能完全結(jié)晶 ,結(jié)晶的程度均是用材料中結(jié)晶部分的質(zhì)量占聚合物的總質(zhì)量的百分比來表示的。結(jié)晶度的測定方法有密度法 (密 度梯度法 )、 X射 線衍射法、紅 外光譜法等。其中 ,由 于密度梯度法投資費用較低 ,目 前被很多薄膜生產(chǎn)廠廣泛地使用。