全站儀的測距設(shè)置和選擇

距離測量的相關(guān)設(shè)置全站儀測距時，需要對儀器進行一些設(shè)置和選擇，而這些設(shè)置和選擇會直接影響距離觀測結(jié)果。如果不改變這些設(shè)置，儀器將沿用上一次的設(shè)置。在測距精度要求較高時，或初次使用儀器時，應(yīng)檢查儀器的各種參數(shù)設(shè)置，保證這些設(shè)置的正確性。全站儀的測距設(shè)置一般在參數(shù)設(shè)置模式下進行，但有的設(shè)置也可以在測量模式下進行。不同的儀器，其操作過程稍有差別。(1)距離單位選擇：M(米)和FT(英尺)，一般選擇M(米)。(2)溫度單位選擇：℃(攝氏度)和°F(華氏度)，一般選擇℃(攝氏度)。(3)氣壓單位選擇：HPA(毫巴)、MMHG(毫米柱)和INHG(英寸柱)。一般根據(jù)所用氣壓計的單位選擇。(4)測程選擇：有的全站儀設(shè)有測程選擇，在普通紅外光時測程為1~2KM，選擇激光測距時，測程可達5KM，當所測距離超過普通紅外光測距測程時，可選擇激光測距。選激光測距，會增大對人體傷害的風險，也會增大電池的功耗。(5)比例尺說定，比側(cè)尺選擇用于對觀測距離進行不同高程面的投影化算。取值范圍一般在0.990000-1.010000之間，在測區(qū)高程較大的時候使用。低海拔地區(qū)一般可選擇1.000000，此項設(shè)定有的全站儀稱為網(wǎng)格因子設(shè)定。

距離測量的相關(guān)功能介紹

距離測量的相關(guān)功能

在距離測量狀態(tài)下，可能用到下列操作功能：

(1)返回測距信號檢測：用于檢查返回測距信號的強弱。當測程特近或特遠時，或特殊氣象條件下，可能用到此項功能。

(2)測距鍵：啟動測距動作，有的全站儀稱為“測量”鍵。在測量模式下，按測距鍵，儀器進入測距狀態(tài)，按當前設(shè)定的模式進行測距，并按相關(guān)設(shè)置進行改正計算， 后顯示改正后的觀測值，觀測結(jié)果的顯示有多種選擇，可通過換頁鍵切換查看。

距離觀測值有三種顯示形式：斜距(S、SD)、平距(H、HD)和高差(V、VD)。注意，這里的高差是指三角高程中的初算高差，即以斜距(斜邊)和平距(直角邊)構(gòu)成的直角三角形的另一個直角邊，而不是測站點與目標點之間的真正高差。

(3)放樣鍵：有的全站儀在距離測量狀態(tài)下，可進行極坐標法放樣。按“放樣”軟鍵，進入極坐標放樣狀態(tài)，出現(xiàn)放樣方向和放樣距離的輸入界面。輸入放樣數(shù)據(jù)后，儀器顯示當前方向與放樣方向的差值；當照準棱鏡進行測量后，還顯示當前棱鏡距離與放樣距離的差值。根據(jù)方向差值和距離差值，移動棱鏡位置并進行測量，直至兩項差值均為零即可。

(4)偏心鍵：有的全站儀在距離測量狀態(tài)下，可進行偏心測量。按“偏心”軟鍵，進入偏心測量狀態(tài)，在出現(xiàn)的偏心參數(shù)輸入界面，輸入偏心參數(shù)后，照準棱鏡進行測量，儀器顯示至偏心點的距離，而非至棱鏡的距離。

光學儀器起霧的原因及其危害

光學儀器起霧的原因及其危害

霧是指光學零件的拋光面上，呈現(xiàn)出'露水'似的物質(zhì)，這些物質(zhì)有的是油質(zhì)點子構(gòu)成的，稱為油性霧，有的是由水珠或水與玻璃起化學反應(yīng)形成堆積物構(gòu)成的，稱為水性霧：有的光學零件上，兩種霧都有，叫做水油混合霧，一般的都以'露水'狀或干的堆積物存在于玻璃表面上。油性霧通常分布在元形光學零件的邊緣，并向中央伸延，有的則沿擦拭痕跡分布，油性霧的形成主要是油脂污染了玻璃表面，或是由于油脂的擴散，揮發(fā)在玻璃表面凝結(jié)而造成的，比如擦拭光學零件所用的輔料含脂量高，或者所用的工具帶有油脂，用手指直接拿取和觸及光學零件等，都會引起油性霧，或者是光學儀器上所用油脂的化學穩(wěn)定性不好，產(chǎn)生擴散或使用方法不當涂油過多，油脂擴散到光學零件上而引起油性霧，或者是由于儀表油脂揮發(fā)性很大，會產(chǎn)生油質(zhì)蒸氣而形成油性霧，還有的是用清洗金工零件時，沒有讓充分發(fā)揮干凈，就涂油裝配。還有的用稀釋放塵脂涂在鏡身內(nèi)，隨著時間的增長和溫度的變化，這些及所含的其它成份，逐漸揮發(fā)至光學零件上而形成油性霧。 水性霧是由于潮濕空氣在溫度變化下而形成，主要分布在零件的積上，產(chǎn)生原因主要是潮濕氣體所致，但與儀器密封性能、光學玻璃的化學穩(wěn)定性，以及玻璃表面的清潔程度有關(guān)，在較高的相對濕度下，霉菌易生長，有些霉菌生長狀大后，便在菌絲體周圍產(chǎn)生分泌物，這些分泌物有的是液狀的，在液狀分泌物外圍便形成水性霧。

安慶測繪儀器的發(fā)展及其趨勢

測量學是人類實踐中產(chǎn)生的一種學科，當然它的發(fā)展離不開其所需要的儀器。測量學的發(fā)展過程，也是測繪儀器的創(chuàng)造和改造的過程。安慶市測繪儀器的發(fā)展可分為機械儀器、光學儀器和電子儀器。

安慶測繪儀器的發(fā)展及其趨勢

　　目前，測繪儀器正處于從機械儀器、光學儀器向電子儀器的過渡階段，測繪儀器的發(fā)展與相關(guān)技術(shù)的發(fā)展方向相輔相成。幾乎所有的產(chǎn)業(yè)革命都會推動測繪儀器朝著更好的方向發(fā)展，并對提高其實用能力起到重要作用。

　　一些比較先進的測繪儀器都會在一定方面上影響我們的測繪技術(shù)。我們可以相信，在未來，互聯(lián)網(wǎng)可以作為一種工具，計算機和儀器之間的差異將逐漸縮小。在不久的將來，可以在世界上任何地區(qū)或時間獲得相應(yīng)的測量數(shù)據(jù)。

　　當今時代，過去的測繪的儀器逐漸進入現(xiàn)代比較先進的測繪儀器領(lǐng)域，現(xiàn)在測繪儀器轉(zhuǎn)型，逐步向電子測繪和智能化測繪手段轉(zhuǎn)變。對測繪數(shù)據(jù)進行處理，獲取地理信息，生成各種地理模型，用于工程、軍事和地理描述。