FE3000反射式膜厚量測(cè)儀:產(chǎn)品特點(diǎn)非接觸式、不破壞樣品的光干涉式膜厚計(jì)。、高再現(xiàn)性量測(cè)紫外到近紅外波長(zhǎng)反射率光譜，分析多層薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)(n:折射率、k:消光系數(shù))。

可在軟件上設(shè)定激發(fā)光源的波長(zhǎng)及步值，實(shí)現(xiàn)自動(dòng)測(cè)量

電流-量子效率曲線(xiàn)

電流-光通量曲線(xiàn)

電流-功率曲線(xiàn)

電流-色溫曲線(xiàn)

電流-色坐標(biāo)曲線(xiàn)

電流-顯色性曲線(xiàn)

電流-電壓曲線(xiàn)

本儀器是一套使用積分半球?qū)Ρ∧顦悠坊蚍蹱钗飿悠愤M(jìn)行量子效率測(cè)試的系統(tǒng)。

FE3000反射式膜厚量測(cè)儀特點(diǎn)：寬闊的波長(zhǎng)量測(cè)范圍。(190nm~1100nm)薄膜到厚膜的膜厚量測(cè)范圍。(1nm~250μm)對(duì)應(yīng)顯微鏡下的微距量測(cè)口徑。不銹鋼樣品池及石英材質(zhì)光學(xué)窗口，光學(xué)透過(guò)率大于98%，全波段無(wú)熒光反應(yīng)，用于固體、粉末及薄膜樣品測(cè)試（數(shù)量5個(gè)），尺寸直徑≤10mm

半積分球。大塚電子獨(dú)有專(zhuān)利，提高積分球測(cè)試效率一倍，更易于樣品的裝夾，切換迅速（世界范圍內(nèi)獨(dú)i家）；(2)多次激發(fā)修正。大塚電子獨(dú)有專(zhuān)利，i大程度降低樣品所反射的激發(fā)光再次照射樣品帶來(lái)的多次激發(fā), 對(duì)粉末和固體測(cè)試精度提高明顯（世界范圍內(nèi)獨(dú)i家）；(3)光譜可擴(kuò)展, 光譜探測(cè)范圍可擴(kuò)展至1700nm甚至2550nm.(4) 可以升級(jí)配備控溫系統(tǒng)（-30℃-300℃）

不銹鋼樣品池及石英材質(zhì)光學(xué)窗口，光學(xué)透過(guò)率大于98%，全波段無(wú)熒光反應(yīng)，用于固體、粉末及薄膜樣品測(cè)試（數(shù)量5個(gè)），尺寸直徑≤10mm

FE3000反射式膜厚量測(cè)儀原理為：利用單色儀和氙燈的組合可實(shí)現(xiàn)任意波段的激發(fā)光并以此來(lái)照射熒光材料樣品，再以光譜儀對(duì)產(chǎn)生的發(fā)光光譜進(jìn)行測(cè)試并對(duì)其熒光材料特性做出評(píng)價(jià)。

1）石英材質(zhì)液體比色皿，光學(xué)透過(guò)率大于98%，全波段無(wú)熒光反應(yīng)，用于液體樣品測(cè)試（3個(gè)）。尺寸：12.5mm*12.5mm*140mm

     2）具有專(zhuān)用的液體容器定位裝置，可實(shí)現(xiàn)入射光垂直入射到容器表面。