光學(xué)影像測(cè)量?jī)x檢測(cè)是一種常見(jiàn)測(cè)量技術(shù)，通過(guò)提供了量化的圖像測(cè)量方式，獲得測(cè)量數(shù)據(jù)，從而對(duì)零部件公差尺寸進(jìn)行把控，是機(jī)械、電子制造業(yè)，計(jì)量測(cè)試所廣泛使用的一種多用途計(jì)量?jī)x器。

影像測(cè)量?jī)x的誤差來(lái)源有哪些呢？ （1）光柵尺記數(shù)的偏差; （2）操作臺(tái)挪動(dòng)時(shí)存有的平行度、角擺產(chǎn)生的偏差; （3）操作臺(tái)兩精l確測(cè)量軸平整度帶的偏差; （4）攝像鏡頭直線光軸與操作臺(tái)不垂直帶的偏差; （5）精l確測(cè)量工作溫度轉(zhuǎn)變產(chǎn)生的偏差; （6）燈源照明燈具標(biāo)準(zhǔn)的轉(zhuǎn)變產(chǎn)生的自動(dòng)對(duì)焦和指向偏差。

三維形貌測(cè)量?jī)x對(duì)于樣品表面特性研究案例

材料科學(xué)的目標(biāo)是研究材料表面結(jié)構(gòu)對(duì)于其表面特性的影響。因此，高分辨率分析表面形貌對(duì)確定表面粗糙度、反光特性、摩擦學(xué)性能及表面質(zhì)量等相關(guān)參數(shù)具有重要意義。

符合國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的NanoFocus測(cè)量系統(tǒng)適用于各種不同材料的測(cè)量需求，滿足滿足規(guī)格要求并使工藝流程優(yōu)化，這意味著在縮短開(kāi)發(fā)時(shí)間的同時(shí)降低成本。

隨著半導(dǎo)體技術(shù)的電子技術(shù)工藝的發(fā)展，電子產(chǎn)品都往小型化，輕薄化發(fā)展。iWatch的一經(jīng)推出，穿戴電子產(chǎn)品成為了一個(gè)新的電子設(shè)備應(yīng)用潮流。隨著電子產(chǎn)品的小型化，器件體積越做越小，空間就緊湊起來(lái)，這對(duì)器件加工尺寸及工藝的容差要求就越來(lái)越高。

這款儀器采用非接觸式線光譜共焦快速掃描技術(shù)，能夠高l精度還原產(chǎn)品的3D結(jié)構(gòu)，對(duì)肉眼不可見(jiàn)的結(jié)構(gòu)缺陷都能準(zhǔn)確檢測(cè)。因?yàn)榫哂休^快的掃描速度，微米級(jí)別的精度和超l強(qiáng)的穩(wěn)定性，一經(jīng)推出立馬成為精密生產(chǎn)商的新寵。在精密鑄件、精密點(diǎn)膠、3D玻璃，半導(dǎo)體缺陷檢測(cè)和多層光學(xué)薄膜厚度檢測(cè)，就是這款產(chǎn)品的主要應(yīng)用領(lǐng)域。

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蘇州盟訊電子有限公司專注于光學(xué)微結(jié)構(gòu)熱壓設(shè)備，工藝及服務(wù)，公司擁有設(shè)計(jì)經(jīng)驗(yàn)8年 /工藝經(jīng)驗(yàn)5年 ，以其自主研發(fā)，技術(shù)創(chuàng)新，不斷推新導(dǎo)光膜卷/片材熱壓設(shè)備﹑同時(shí)適用于LED導(dǎo)光板/擴(kuò)散板/PS/PMMA/照明/面板/燈飾/燈箱/電視TV等納米導(dǎo)光板片材熱壓設(shè)備﹑激光鐳射/金屬雕刻機(jī)，不銹鋼板雕刻激光設(shè)備，304不銹鋼板,8/10/12K，進(jìn)口日料超鏡面覆膜不銹鋼板/帶，等一系列光學(xué)膜周邊配套設(shè)備及周邊輔材，

三維表面形貌測(cè)量?jī)x這款儀器采用非接觸式線光譜共焦快速掃描技術(shù)，能夠高l精度還原產(chǎn)品的3D結(jié)構(gòu)，對(duì)肉眼不可見(jiàn)的結(jié)構(gòu)缺陷都能準(zhǔn)確檢測(cè)。因?yàn)榫哂休^快的掃描速度，微米級(jí)別的精度和超l強(qiáng)的穩(wěn)定性，一經(jīng)推出立馬成為精密生產(chǎn)商的新寵。在精密鑄件、精密點(diǎn)膠、3D玻璃，半導(dǎo)體缺陷檢測(cè)和多層光學(xué)薄膜厚度檢測(cè)，就是這款產(chǎn)品的主要應(yīng)用領(lǐng)域。