高壓陶瓷電容器的測(cè)驗(yàn)方法

可靠性高，體積小，充放電壽命長(zhǎng)，電壓高達(dá)150kV，放電電流大，介質(zhì)損耗＜0.1%。

高壓陶瓷電容器的可靠性測(cè)驗(yàn)，也叫老化測(cè)驗(yàn)，壽數(shù)測(cè)驗(yàn)，包含很多方面的測(cè)驗(yàn)內(nèi)容：

1、串聯(lián)電阻測(cè)驗(yàn)，絕緣電阻測(cè)驗(yàn)；

2、拉力測(cè)驗(yàn)，即引線與芯片焊接的結(jié)實(shí)度；

3、正負(fù)溫改變率測(cè)驗(yàn)，即-40度到 60度狀況下，電容的改變率；

4、老化測(cè)驗(yàn)，高壓陶瓷電容在模仿作業(yè)環(huán)境狀態(tài)下運(yùn)作30~60天，測(cè)驗(yàn)其衰減其各項(xiàng)參數(shù)的改變；

5、耐壓試驗(yàn)，包含額定作業(yè)電壓24小時(shí)作業(yè)測(cè)驗(yàn)；也包含擊穿耐壓，即破壞性測(cè)驗(yàn)，電容被擊穿前的那一個(gè)臨界電壓就是擊穿電壓。

6、局放測(cè)驗(yàn)，即部分放電測(cè)驗(yàn)；

7、壽數(shù)測(cè)驗(yàn)，即在老化測(cè)驗(yàn)的基礎(chǔ)上，再對(duì)電容進(jìn)行高頻沖電流下快速充放電測(cè)驗(yàn)，得到的充放電次數(shù)就是充放電壽數(shù)，留意，這個(gè)壽數(shù)的得出是在長(zhǎng)時(shí)間的老化之后得出的。

電容器在yiliao器械中選型及應(yīng)用

新型鉭電容

為解決降低額定電壓的問題，Vishay研發(fā)部門開發(fā)出了具有更高額定電壓等級(jí)的新系列SMD固體鉭電容器，額定電壓高達(dá)75WVDC.50V額定電壓電容在28V以及更高電壓導(dǎo)軌中的應(yīng)用引起了設(shè)計(jì)人員的擔(dān)心，而采用Vishay新型的63V和75V鉭電容，可達(dá)到額定電壓降低50%的行業(yè)認(rèn)可安全指標(biāo)。電介質(zhì)成形更薄、更一致，使SMD固體鉭電容的額定電壓能夠達(dá)到75V，從而實(shí)現(xiàn)了提高額定電壓的技術(shù)突破。成形工藝中對(duì)多道工序進(jìn)行了改進(jìn)：降低了成形加工過程中產(chǎn)生的機(jī)械應(yīng)力集中，降低了電容成形過程中電解液的局部過熱，提高了電介質(zhì)成形過程中電解液濃度和純度的一致性。其實(shí)選用電容時(shí)不僅僅是只看容量和封裝，具體要看產(chǎn)品所使用環(huán)境，特殊的電路必須用特殊的電容。新型電容T97系列的額定電壓達(dá)75V，83系列達(dá)63V.