γ計(jì)數(shù)器的原理

γ計(jì)數(shù)器，是一種用于探測(cè)電離輻射的粒子探測(cè)器，通常用于探測(cè)α粒子和β粒子，也有些型號(hào)蓋革計(jì)數(shù)器可以探測(cè)γ射線及X射線。

γ計(jì)數(shù)器是根據(jù)射線對(duì)氣體的電離性質(zhì)設(shè)計(jì)成的。其探測(cè)器（稱“蓋革管”）的通常結(jié)構(gòu)是在一根兩端用絕緣物質(zhì)密閉的金屬管內(nèi)充入稀薄氣體（通常是摻加了鹵素的稀有氣體，如氦等），在沿管的軸線上安裝有一根金屬絲電極，并在金屬管壁和金屬絲電極之間加上略低于管內(nèi)氣體擊穿電壓的電壓。

γ計(jì)數(shù)器的功能

γ計(jì)數(shù)器是一種使用異常方便、操作簡(jiǎn)單的計(jì)數(shù)儀，采用大屏幕觸摸顯示屏。具有多道分析和光子能量譜圖及同位素識(shí)別與分析功能。

1、測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)準(zhǔn)確，使用井型NaI晶體探頭能在活度水平極其低的情況下進(jìn)行測(cè)試；  

2、在不需要多種樣本變換的部門(mén)，還能當(dāng)成單井γ計(jì)數(shù)器使用；  

3、可以用dpm, nCi, cps, dps或kBq來(lái)顯示結(jié)果；  

4、能自動(dòng)減去本底并且能自我檢查系統(tǒng)測(cè)試項(xiàng)目；  

5、外部有一個(gè)鉛防護(hù)板（1.3cm厚），并且還有一個(gè)輔助的防護(hù)板可以替換。  

γ計(jì)數(shù)器的性能

CAPRAC-t型擦拭測(cè)試計(jì)數(shù)儀/井型NaI咖瑪計(jì)數(shù)儀性能：

1、可打印測(cè)試報(bào)告和光子能量直方圖；

2、計(jì)算通道含有511Kev探測(cè)功能；

3、通過(guò)γ能譜鑒別同位素；

4、為不同區(qū)域（熱實(shí)驗(yàn)室、病房、等）接收和儲(chǔ)存單個(gè)的觸發(fā)水平；

5、增加的觸發(fā)水平計(jì)數(shù)用紅色墨打印。

6、6秒內(nèi)進(jìn)行擦拭測(cè)試。

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γ計(jì)數(shù)器的優(yōu)勢(shì)

與其他井型計(jì)數(shù)器相比，CAPRAC-t 擁有更快的速度、更高的精度和更齊全的內(nèi)置功能。該計(jì)數(shù)器可以在6秒鐘內(nèi)完成—次擦拭測(cè)試(1 nci)，而檢測(cè)極低活度的精度甚至與NaI 并型探測(cè)器相當(dāng)。

CAPRAC-t的設(shè)計(jì)和制造一直都極其可靠，且可以選擇Curie或 Becquerel作為單位。該設(shè)備擁有自動(dòng)背景差分和自我診斷程序，可使用*的信噪比完成系統(tǒng)測(cè)試。這包括鉛制外屏蔽層（1.3厘米厚）與可選的輔助屏蔽層。