大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關材料的光學特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

為了確保膜厚儀的安全操作，必須注意以下幾點：　　·始終按照操作手冊的要求操作膜厚儀；　　·不要損壞安全互鎖系統(tǒng)的任何元件，例如微動開關等等；　　·不要對膜厚儀做任何改變。

膜厚測試儀調校步驟：選擇要調校的產(chǎn)品程式；選擇菜單“調校---調?！遍_始進行“調校”屏幕左下角的指令窗口會出現(xiàn),按“確定”結束調校。

膜厚儀測試時有關輻射安全注意事項

幅射安全方面膜厚儀由于使用X射線管而產(chǎn)生輻射。測量頭的設計完全符合國際X射線安全要求：　　·測量頭控制臺上的一個鑰匙開關通過打開或關閉X射線管上的高壓決定X幅射的產(chǎn)生與否；　　·一個多級故障自動保險互鎖系統(tǒng)可控制X幅射的產(chǎn)生，從而有效保護操作者的安全；　　·如果測量門沒有完全關閉，X幅射就不會進入測量室；　　·足夠的遮罩用來減小外部的幅射量。

膜厚儀直接的鍍膜操縱方法是石英晶體微量平衡法(QCM)，此法可以直接驅動蒸發(fā)祥，通過PID控制循環(huán)驅動擋板，保持蒸發(fā)速率。只有將儀器與系統(tǒng)控制軟件相連接，它就可能節(jié)制全體的鍍膜進程。然而QCM的正確度是有限的，部分起因是由于它監(jiān)控的是被鍍膜的質量而不是其光學厚度。