175度高溫AD

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量化誤差(Quantizing Error) 由于AD的有限分辯率而引起的誤差，即有限分辯率AD的階梯狀轉(zhuǎn)移特性曲線與無限分辯率AD（理想AD）的轉(zhuǎn)移特性曲線（直線）之間的很大偏差。通常是1 個(gè)或半個(gè)很小數(shù)字量的模擬變化量，表示為1LSB、1/2LSB。將采樣所得信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)往往需要一定的時(shí)間，為了給后續(xù)的量化編碼電路提供一個(gè)穩(wěn)定值，采樣電路的輸出還必須保持一段時(shí)間，而采樣與保持過程都是同時(shí)完成的。

175度原裝AD轉(zhuǎn)換器

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逐次逼近式A/D是比較常見的一種A/D轉(zhuǎn)換電路，轉(zhuǎn)換的時(shí)間為微秒級(jí)。

采用逐次逼近法的A/D轉(zhuǎn)換器是由一個(gè)比較器、D/A轉(zhuǎn)換器、緩沖寄存器及控制邏輯電路組成，逐次逼近式AD轉(zhuǎn)換器原理圖基本原理是從高位到低位逐位試探比較，好像用天平稱物體，從重到輕逐級(jí)增減砝碼進(jìn)行試探。逐次逼近法轉(zhuǎn)換過程是:初始化時(shí)將逐次逼近寄存器各位清零;轉(zhuǎn)換開始時(shí)，先將逐次逼近寄存器位置1，送入D/A轉(zhuǎn)換器，經(jīng)D/A轉(zhuǎn)換后生成的模擬量送入比較器，稱為 Vo，與送入比較器的待轉(zhuǎn)換的模擬量Vi進(jìn)行比較，若Vo<Vi，該位1被保留，否則被清除。然后再置逐次逼近寄存器次高位為1，將寄存器中新的數(shù)字量送D/A轉(zhuǎn)換器，輸出的 Vo再與Vi比較，若Vo<Vi，該位1被保留，否則被清除。重復(fù)此過程，直至逼近寄存器低位。轉(zhuǎn)換結(jié)束后，將逐次逼近寄存器中的數(shù)字量送入緩沖寄存器，得到數(shù)字量的輸出。逐次逼近的操作過程是在一個(gè)控制電路的控制下進(jìn)行的。通用陣列邏輯GAL(GenericArrayLogic)是新一代的可編程邏輯器件，是采用先進(jìn)的E2CMOS工藝制造的大規(guī)模集成電路，是新產(chǎn)品設(shè)計(jì)的理想器件。

150度AD轉(zhuǎn)換器

量化與編碼

數(shù)字信號(hào)不僅在時(shí)間上是離散的，而且在幅值上也是不連續(xù)的。任何一個(gè)數(shù)字量的大小只能是某個(gè)規(guī)定的小數(shù)量單位的整數(shù)倍。為將模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字量，在A/D轉(zhuǎn)換過程中，還必須將取樣-保持電路的輸出電壓，按某種近似方式歸化到相應(yīng)的離散電平上，這一轉(zhuǎn)化過程稱為數(shù)值量化，簡稱量化。量化后的數(shù)值后還需通過編碼過程用一個(gè)代碼表示出來。經(jīng)編碼后得到的代碼就是A/D轉(zhuǎn)換器輸出的數(shù)字量。當(dāng)差動(dòng)放大電路完全對(duì)稱時(shí)，共模信號(hào)電壓放大倍數(shù)Auc=0，則共模抑制比CCMR→∞，這是理想情況，實(shí)際上電路完全對(duì)稱是不存在的，共模抑制比也不可能趨于無窮大。

量化過程中所取小數(shù)量單位稱為量化單位，用△表示。它是數(shù)字信號(hào)低位為1時(shí)所對(duì)應(yīng)的模擬量，即1LSB。

在量化過程中，由于取樣電壓不一定能被△整除，所以量化前后不可避免地存在誤差，此誤差稱之為量化誤差，用ε表示。量化誤差屬原理誤差，它是無法消除的。A/D 轉(zhuǎn)換器的位數(shù)越多，各離散電平之間的差值越小，量化誤差越小。

測井175度AD轉(zhuǎn)換器

直接法是直接將電壓轉(zhuǎn)換成數(shù)字量。

它用數(shù)模網(wǎng)絡(luò)輸出的一套基準(zhǔn)電壓，從高位起逐位與被測電壓反復(fù)比較，直到二者達(dá)到或接近了平衡。直接逐位比較型轉(zhuǎn)換器是一種高速的數(shù)模轉(zhuǎn)換電路，轉(zhuǎn)換精度很高，但對(duì)干擾的抑制能力較差，常用提高數(shù)據(jù)放大器性能的方法來彌補(bǔ)。它在計(jì)算機(jī)接口電路中用得很普遍。圖7說明了線性斜升技術(shù)的應(yīng)用，首先使輸入電壓線性增加，同時(shí)對(duì)輸出以固定間隔連續(xù)采樣，電壓逐步增加時(shí)連續(xù)幾次采樣都會(huì)得到同樣輸出代碼，這些采樣次數(shù)稱為“點(diǎn)擊數(shù)”。