內(nèi)窺鏡三維立體的優(yōu)點(diǎn)

即觀案即測量，孔探工作速率高

由于三維立體相位掃描測量技術(shù)不再是根據(jù)二維畫面進(jìn)行，而是采用攝取和掃描物體表面三維信息的辦法，所以不再限制測量鏡頭的視野和焦距，可以采用單物鏡且視野范圍更廣、焦距范圍更大的設(shè)計(jì)，實(shí)現(xiàn)即觀察即測量，發(fā)現(xiàn)缺陷后無需更換鏡頭即可直接測量(如圖7所示)。近年來，雖然也有其他廠家嘗試研發(fā)觀察鏡頭與測量鏡頭二合一的技術(shù)以期實(shí)現(xiàn)即觀察即測量的功能，但由于其測量精度無法滿足要求而不被接受。

內(nèi)窺鏡的照明技術(shù)

目前市場上工業(yè)內(nèi)窺鏡的照明技術(shù)主要分為兩種︰前置光源和后置光源。

前置光源技術(shù)，光源通常直接裝在鏡頭上，例如采用貼片的方式，不用通過光纖或者光纖束傳遞光信號(hào)，目前國產(chǎn)內(nèi)窺鏡和部分進(jìn)口內(nèi)窺鏡品牌大部分采用的是前置光源技術(shù)。這種光源技術(shù)，主機(jī)成本低，但是鏡頭成本較高，因?yàn)榧闪斯庠吹木壒?，而且由于鏡頭直徑通常不足10毫米，狹小的空間限制了光源功率不可能太大，導(dǎo)致無法看清被檢對(duì)象或者成像清晰度受到一定影響。

后置光源技術(shù)，光源后置在主機(jī)里，通過成像光纖傳遞光信號(hào)，在鏡頭上設(shè)置有出光口達(dá)到照明的目的。這種光源照明技術(shù)，主機(jī)成本略高，鏡頭成本相對(duì)低一些，主要應(yīng)用于比較專屬的進(jìn)口工業(yè)內(nèi)窺鏡品牌上。后置光源的照明方式，由于光源位于主機(jī)里，沒有空間上的限制，因此可以采用大功率光源，保證照明的亮度，從而保證了圖像清晰度。

內(nèi)窺鏡單物鏡激光測量法

其后工業(yè)內(nèi)窺鏡出現(xiàn)的單物鏡激光測量法也是一種單視窗的、理論上可測量30~50mm大尺寸的方法，同樣不需要垂直于被測量缺陷所在的平面，并且其測量鏡頭的焦距較長，可以直接用來查找缺陷然后進(jìn)行拍照測量，因此其在面世之初曾受關(guān)注。但在實(shí)際應(yīng)用中，由于散落在缺陷上的激光點(diǎn)的數(shù)量相對(duì)有限，導(dǎo)致檢測同一缺陷的測量數(shù)值的重復(fù)性相對(duì)較差而無法確認(rèn)有效數(shù)據(jù)，特別是針對(duì)較小缺陷時(shí)這種情況就更加明顯，所以這種測量方法目前在民航領(lǐng)域應(yīng)用不多，在此就不做進(jìn)一步分析了。

單物鏡三維立體相位掃描測量法

近幾年工業(yè)內(nèi)窺鏡出現(xiàn)的單物鏡三維立體相位掃描測量法（以下簡稱3D相位掃描測量)是一種新型的法光學(xué)測量技術(shù)，其測量鏡頭可將線形光柵交叉投射到表面，并用具有高質(zhì)量光學(xué)器件的攝像機(jī)這個(gè)線形模式，再用專有算法處理圖像，得到整個(gè)表面的三維點(diǎn)云圖;將三維空間點(diǎn)坐標(biāo)與測量結(jié)合使用，獲得更多有關(guān)缺陷或者被測對(duì)象的準(zhǔn)確信息，這是真正意義上的三維立體測量技術(shù)，并且數(shù)據(jù)重復(fù)性好，可靠性高。

其測量鏡頭同樣不需要垂直于被測量缺陷所在的平面，尤為特別的是它將不同焦距段（極近、近焦和中焦）的觀察鏡頭和測量鏡頭合為一體，采用大視野單視窗視圖，檢測過程中發(fā)現(xiàn)缺陷即可拍照測量，不僅適合于較大尺寸缺陷的測量，而且較之雙物鏡立體測量，省去了從觀察鏡頭更換為測量鏡頭的步驟，有效的提高檢測效率，同時(shí)也降低了工業(yè)內(nèi)窺鏡探頭反復(fù)穿插帶來卡滯的風(fēng)險(xiǎn)。