貴金屬分析儀介紹

簡單的“對準即測”操作，使用方便直觀的大圖標式用戶界面：操作員幾乎不需任何培訓，大面積4.3英寸彩色觸摸屏，即便在陽光直射下也能清晰地看到檢驗結果。操作簡單方便，戴上手套也不受影響符合IP54 等級（相當于 NEMA 3），能夠適應惡劣的環(huán)境。密度測金儀可以彌補光譜測金儀只能測試表面，測試不了內部的缺點，光譜測金儀可以彌補密度測金儀精度低的缺點，兩者相互結合可以得到更準確的檢測數據。

加強型防護窗口（用于Expert 及 Optimum）可防止X射線管和探頭在測試小部件和尖銳物體時受損；

可快速更換防護窗口：無需任何工具即可快速更換已損壞或玷污的窗口；

可按客戶要求定制檢驗結果模式，以便于快速作出判斷：即顯示您所需重要信息，例如合號、元素成分、合格/不合格通知，以及元素的顯示順序。

時尚精巧的設計、可選配相機，有助于準確定位測量。

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光譜儀簡介

以下內容由北京京國藝科技發(fā)展有限公司為您提供，今天我們來分享貴金屬分析儀的相關內容，希望對同行業(yè)的朋友有所幫助！

X射線熒光光譜分析儀分為能量色散型X射線熒光光譜分析儀（EDXRF）和波長色散型X射線熒光光譜分析儀（WDXRF）。波長色散型X射線熒光光譜分析儀是通過X射線的波長特性，對X射線進行分光，獲取各個光通道的計數，從而得到樣品的成分及含量。該設備優(yōu)勢是準確度高，但是設備造價高，維護成本高，樣品需要前處理，操作相對復雜。能量色散型X射線熒光光譜分析儀是通過X射線的粒子特性，獲取特征光譜的能量和計數，從而得到樣品的成分及含量。該設備優(yōu)勢是造價低，維護成本低，樣品不需要前處理可直接測量，操作簡單，但精度低于波長色散型X射線熒光光譜分析儀。準直定點準、光斑小，具有良好的點測能力，防止焊藥對測量帶來的影響。正是基于以上原理，貴金屬分析儀能夠快速檢測出貴金屬及其雜質的成分及含量。

便攜式貴金屬分析儀

北京京國藝科技發(fā)展有限公司——專業(yè)生產、銷售貴金屬分析儀，我們公司堅持用戶為上帝，想用戶之所想，急用戶之所急，以誠為本，講求信譽，以產品求發(fā)展，以質量求生存，我們熱誠地歡迎各位同仁合作共創(chuàng)輝煌。

GY-MARS/T88型 貴金屬分析儀是貴金屬分析儀中的中端產品。可實現貴金屬及雜質檢測，符合新國標GB18043-2013。該產品可應用于銀行、技監(jiān)部門、金廠、典當等眾多行業(yè)。手提箱設計，單人即可攜帶，便于現場檢查使用。

儀器采用了電制冷SI-PIN半導體探測器，分辨率為149eV。能檢測被測物中的各種元素，有效測量黃金、鉑金中的銥含量。準直定點準、光斑小，具有良好的點測能力，防止焊藥對測量帶來的影響。4．集成光譜對比功能，內置純金、千足金、K金等數百種光譜，和測試光譜對比一目了然。配合來自美國的第五代數字信號處理器，分析速度和系統(tǒng)處理能力得到極大的提高，計數率可達200萬，具有很高的穩(wěn)定性和準確性。

一般的貴金屬分析儀都具備哪些售后保障？

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1.為客戶免費提供現場操作培訓，培訓期兩天。

2.整機保修一年，終身技術服務支持。

3.保修期內因產品質量問題導致的儀器損壞，免費維修。

4.標準響應時間：4小時響應，24小時技術支持熱線。

5.免費提供軟件升級。