江蘇一六儀器   X射線熒光測(cè)厚儀    十年以上研發(fā)團(tuán)隊(duì)      集研發(fā)生產(chǎn)銷售一體

性能優(yōu)勢(shì)：

   下照式設(shè)計(jì)：可以快速方便地定位對(duì)焦樣品。

   無(wú)損變焦檢測(cè):可對(duì)各種異形凹槽進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)，凹槽深度范圍0-90mm。

   微聚焦射線裝置：可檢測(cè)面積小于0.002mm2的樣品，可測(cè)試各微小的部件。

測(cè)厚儀

    測(cè)厚儀（thickness gauge ）是用來(lái)測(cè)量材料及物體厚度的儀表。在工業(yè)生產(chǎn)中常用來(lái)連續(xù)或抽樣測(cè)量產(chǎn)品的厚度（如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料）。這類儀表中有利用α射線、β射線、γ射線穿透特性的性厚度計(jì)；超聲波測(cè)厚儀超聲波在各種介質(zhì)中的聲速是不同的，但在同一介質(zhì)中聲速是一常數(shù)。有利用超聲波頻率變化的超聲波厚度計(jì)；有利用渦流原理的電渦流厚度計(jì)；還有利用機(jī)械接觸式測(cè)量原理的測(cè)厚儀等。

一六儀器  國(guó)內(nèi)外通力合作打造高性價(jià)比X熒光測(cè)厚儀 穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng),專利獨(dú)特聚焦和變距設(shè)計(jì),多元EFP算法,簡(jiǎn)便快速測(cè)試各種涂鍍層的厚度及成分比例

測(cè)厚儀的測(cè)試方法主要有：磁性測(cè)厚法，測(cè)厚法，電解測(cè)厚法，渦流測(cè)厚法，超聲波測(cè)厚法。

 測(cè)量注意事項(xiàng)：1.測(cè)量前要注意周圍其他的電器設(shè)備會(huì)不會(huì)產(chǎn)生磁場(chǎng)，如果會(huì)將會(huì)干擾磁性測(cè)厚法。

2.測(cè)量時(shí)要注意不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測(cè)量，因?yàn)橐话愕臏y(cè)厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。

3在測(cè)量時(shí)要保持壓力的恒定，否則會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)

4.在進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候要注意儀器測(cè)頭和被測(cè)試件的要直接接觸，因此超聲波測(cè)厚儀在進(jìn)行對(duì)側(cè)頭清除附著物質(zhì)。

一六儀器-------鍍層測(cè)厚儀|光譜測(cè)厚儀|X-ray測(cè)厚儀|X熒光測(cè)厚儀|凃?qū)幽ず駜x

X射線測(cè)厚儀測(cè)量精度的影響因素

X射線源的衰減對(duì)于工廠現(xiàn)場(chǎng)的的標(biāo)定過(guò)程中,隨著使用時(shí)間的增加,燈管的曲線會(huì)發(fā)生變化,在同一電壓下,隨著使用燈管時(shí)間的遞加,厚度偏差會(huì)越來(lái)越大,因此,X射線源的衰減,是影響測(cè)量精度的一個(gè)主要原因。除了正常使用過(guò)程中X射線源會(huì)出現(xiàn)衰減,在出現(xiàn)某些故障是,也會(huì)發(fā)生突發(fā)性的衰減,出現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)化通過(guò)不過(guò),反饋的電壓與工廠現(xiàn)場(chǎng)標(biāo)準(zhǔn)電壓相差巨大,發(fā)生這種情況,X射線測(cè)厚儀的測(cè)量精度肯定是不準(zhǔn)確的。測(cè)厚儀在使用過(guò)程中，如果操作不規(guī)范，很容易導(dǎo)致測(cè)厚儀出現(xiàn)故障及問(wèn)題，因此我們?cè)谑褂们岸夹枰攘私庀聹y(cè)厚儀的操作規(guī)范及一些常見(jiàn)問(wèn)題的處理方法：一。